[发明专利]一种集成电路漏电流测试电路及装置

说明书

本申请涉及微电子控制技术领域，特别地，涉及一种集成电路漏电流测试电路及装置。一定程度上可以解决集成电路管脚漏电流测试中采样电阻两端信号与测试电路不能隔离，导致漏电流测试结果的误差大、可靠性降低的问题。所述集成电路漏电流测试电路，包括：处理器，被配置发送控制信号至DAC电路、管脚配置电路，并接收来自测试电路的漏电流测试电压信号；管脚配置电路，根据来自处理器的控制信号，为集成电路的待测管脚选择输入信号电路；DAC电路，根据来自处理器的控制信号，为所述输入信号电路提供电平信号、测试信号；测试电路，耦合至所述处理器与所述管脚配置电路，根据接收的电平信号、测试信号输出漏电流测试电压信号至所述处理器。

技术领域

本申请涉及微电子控制技术领域，特别地，涉及一种集成电路漏电流测试电路及装置。

背景技术

漏电流是医用电气设备的重要安全指标之一。据有关资料报道，美国平均每年有1200多人在常规诊断和治疗过程中因触电死亡，因漏电流过高而受到电击伤害的更是不计其数。漏电流的产生主要存在两种形式，一种是容性电流，即电流跨过电容器流经过的电流；一种是阻性电流，即电阻两端存在电压差，而形成的电流，存在于应用部件。随着电子设备体积的小型化，集成电路的规模越来越大，对集成电路的要求亦越来越高。其中，漏电流为集成电路最为重要的通用测试参数之一，集成电路产生的漏电流会对产品的精确度产生影响，甚至造成安全隐患。

在一些漏电路测试的实现中，漏电测试系统包括多个独立的漏电流测试单元及逻辑控制器，每个漏电流测试单元包含独立的测试点和待测点；漏电流测试系统通过逻辑控制器对各个漏电流测试单元的输出信号进行逻辑分析，得到漏电流测试结果，并传递给外部电路。通过电压比较器对测试点上的电压和参考电压的比较而产生的输出信号，来判断测试点上的漏电流是否在允许的范围内。此漏电流测试系统能够内置到集成电路中，能够实时测试电路重要位置的漏电流大小。

但是，上述方案中测试漏电流电路结构复杂，成本较高，且产品微型化导致集成电路芯片的物理隔离度降低，增加漏电流的可能性。

发明内容

本申请提供了一种集成电路漏电流测试电路及装置，通过构建管脚配置电路、处理器，DAC电路，测试电路以及其电压跟随电路，一定程度上可以解决集成电路管脚漏电流测试中采样电阻两端信号与测试电路不能隔离，导致漏电流测试结果的误差大、可靠性降低的问题。

本申请的实施例是这样实现的：

本申请实施例第一方面提供一种集成电路漏电流测试电路，包括：

处理器，被配置发送控制信号至DAC电路、管脚配置电路，并接收来自测试电路的漏电流测试电压信号；

管脚配置电路，被配置为根据来自处理器的控制信号，为集成电路的待测管脚选择输入信号电路；

DAC电路，被配置为根据来自处理器的控制信号，为所述输入信号电路提供电平信号、测试信号；

测试电路，耦合至所述处理器与所述管脚配置电路，被配置为根据接收的电平信号、测试信号输出漏电流测试电压信号至所述处理器。

可选地，所述测试电路，包括：采样电阻、电流采集电路，以及所述电流采集电路被配置为用于获取通过所述采样电阻的漏电流测试电压信号。

可选地，所述测试电路还包括：包含第一电压跟随电路的第一支路，所述电平信号通过所述第一电压跟随电路输入至所述电流采集电路；包含第二电压跟随电路的第二支路，所述测试信号通过所述第二电压跟随电路输入至所述电流采集电路。

可选地，所述第二电压跟随电路设置为运放，其正相输入端接收所述测试信号，其输出信号输入至所述电流采集电路的反相输入端；所述第一电压跟随电路设置为运放，其正相输入端接收所述电平信号，其输出信号输入与至所述电流采集电路的正相输入端。