[发明专利]一种筛选试验优化自动化测试设备

说明书

本发明公开了一种筛选试验优化自动化测试设备。设备包括数据采集通信装置和测试主机，数据采集通信装置包括主控单元、电源单元、矩阵单元、显控单元和信号连接接口；测试主机包括通过RS232和RS422模块连接的主控计算机，RS232模块通过RS232接口与主控单元连接，主控单元分别与矩阵单元、显控单元连接；RS422模块通过RS422接口与矩阵单元连接，矩阵单元分别通过1组、2组、3组信号接口连接待测产品组。本设备的矩阵单元中将测试主机的4路RS422接口通过继电器矩阵开关网络，扩展为3组12台被测产品的12路RS422接口，即4套完整通讯资源扩展为12套完整测试资源，从而实现对12套产品的测试。

技术领域

本发明涉及测试设备，特别是涉及一种筛选试验优化自动化测试设备。

背景技术

激光半主动导引头温度循环筛选试验过程中，导引头产品需在规定时间内完成各项功能性能指标的测试，测试时间短，测试项目多。目前一台测试设备在同一时间只能够测试一个产品，若想多个产品同时进行温度循环筛选试验，到试验测试点后，只能顺序依次进行产品测试，耗时长，很容易错过规定的测试时间段。

发明内容

鉴于现有技术存在的问题和缺陷，本发明研发一种筛选试验优化自动化测试设备。本自动化测试设备主要解决激光半主动导引头在筛选试验过程中短时间内多台产品同时自动化测试的问题，同时要保证测试数据的有效性，提高工作效率。

本发明采取的技术方案是：一种筛选试验优化自动化测试设备，其特征在于，包括数据采集通信装置和筛选试验优化测试主机，数据采集通信装置包括主控单元、电源单元、矩阵单元、显控单元和信号连接接口；筛选试验优化测试主机包括通过RS232模块和RS422模块连接的主控计算机，RS232模块通过RS232接口与所述的主控单元连接，主控单元分别与矩阵单元、显控单元连接；所述的RS422模块通过RS422接口与矩阵单元连接，所述的信号连接接口包括1组信号接口、2组信号接口和3组信号接口，矩阵单元分别通过1组信号接口、2组信号接口、3组信号接口连接待测产品组。

本发明所述的矩阵单元包括继电器矩阵开关网络，采用型号为DB25的数据接口J2、数据接口J3、数据接口J4、数据接口J5、数据接口J2为4路RS422串口输入接口，数据接口J3、数据接口J4、数据接口J5为被测产品的RS422输出接口；所述继电器矩阵开关网络采用型号为G5V-2-H1的16个继电器，分别是：继电器K1、继电器K2、继电器K3、继电器K4、继电器K5、继电器K6、继电器K7、继电器K8、继电器K9、继电器K10、继电器K11、继电器K12、继电器K13、继电器K14、继电器K15、继电器K16。

本发明所述的RS422串口输入信号连接至前端继电器K2、继电器K4、继电器K6、继电器K8、继电器K10、继电器K12、继电器K14、继电器K16的触点公共端4脚和13脚；后端继电器K1、继电器K3、继电器K5、继电器K7、继电器K9、继电器K11、继电器K13、继电器K15的触点公共端4脚和13脚连接至前端继电器K2、继电器K4、继电器K6、继电器K8、继电器K10、继电器K12、继电器K14、继电器K16的常开触点8脚和9脚；前端继电器K2、继电器K4、继电器K6、继电器K8、继电器K10、继电器K12、继电器K14、继电器K16的常闭触点6脚和11脚连接至第1组被测产品的数据接口J3；后端继电器K1、继电器K3、继电器K5、继电器K7、继电器K9、继电器K11、继电器K13、继电器K15的常闭触点6脚和11脚连接至第2组被测产品的数据接口J4；后端继电器K1、继电器K3、继电器K5、继电器K7、继电器K9、继电器K11、继电器K13、继电器K15的常开触点8脚和9脚连接至第3组被测产品的数据接口J5。