[发明专利]一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法

权利要求书

1.一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法，其特征在于：

计算特性阻抗时，添加绝对值符号，避免多重反射导致的数据异常；采用两个校准件，通过等效计算的方法，计算出更准确的入射电压幅度值，避免测量区域取值产生误差；并提供开路校准模式和端接校准模式，避免被测件在校准测量时和工作时的状况不同产生的误差；所述方法包括以下步骤：

S1.初始化时域反射计，使其能够测量并显示出校准件的全部长度；

S2.选择校准模式：测试开始前，先选择采用开路校准模式或是端接校准模式进行校准；

S3.选择校准通道：所述时域反射计包括2个通道，以便能够完成差分TDR测量；在校准过程中，首先选择其中一个通道进行校准，并保存校准过程中得到的校准参数；

对选择的通道进行校准的过程如下：

S301.初始化测试起点：将一同轴电缆连接到时域反射计上，保持末端开路,测量开路脉冲上升沿幅度为50％的中点，作为校准件时间测量的起点t_1,Std；

S302.获取参考校准件参数：选择作为参考校准件的空气线连接到电缆上，已知其准确特性阻抗值为Z_std,ref；

测量此时开路脉冲上升沿幅度为50％的中点，作为参考校准件时间测量的终点t_2,ref；

计算参考校准件的往返传输时间T_rt,ref＝t_2,ref-t_1,Std；选择T_rt,ref的65％-85％时间段为计算参考校准件的区域T_if,ref；

S303.测量T_if,ref区域内的反射电压幅度的平均值：

如果选择的是开路校准模式，则直接测量T_if,ref区域内的反射电压幅度的平均值V_std,ref；

如果选择的是端接校准模式，则继续连接与空气线特性阻抗值匹配的端接负载，然后再测量T_if,ref区域内的反射电压幅度的平均值V_std,ref；

S304.获取基准校准件参数：连接作为基准校准件的50Ω空气线到电缆上，已知其准确特性阻抗值为Z_std,50；

测量此时开路脉冲上升沿幅度为50％的中点，作为校准件时间测量的终点t_2,50；

计算参考校准件的往返传输时间T_rt,50＝t_2，50-t_1,Std；选择T_rt,50的50％-70％时间段为计算50Ω特性阻抗的区域T_if,50；

S305.测量T_if,50区域内的反射电压幅度的平均值：

如果选择的是开路校准模式，则直接测量T_if,50区域内的反射电压幅度的平均值V_std,50；

如果选择的是端接校准模式；则连接与空气线特性阻抗值匹配的端接负载，然后再测量T_if,50区域内的反射电压幅度的平均值V_std,50；

S306.计算接入参考校准件的反射系数：

V_r,ref＝V_std,ref-V_std,50；

S307.计算等效入射脉冲电压幅度：

S308.分别保存开路校准模式和端接校准模式下，通过步骤S301～S307获得的所有测量参数，当前通道校准完成；

S4.选择另一个通道，按照步骤S301～步骤S308进行处理，完成对另一个通道的校准；

S5.开始测试：选定使用开路校准模式或是端接校准模式下的参数，在相应的模式下对被测件进行测试，得到测量波形数据，设波形数据中某一时间点x对应的电压幅度值为V_C,x，据此计算出被测件特性阻抗Z_x：

2.根据权利要求1所述的一种时域反射计的特性阻抗时域双参考线校准方法，其特征在于：所述参考校准件包括25Ω、75Ω和100Ω的空气线。