[发明专利]残迹确定方法、装置和电子设备

权利要求书

1.一种残迹确定方法，包括：

获取待分析的至少两个第一图像样本，所述至少两个第一图像样本为同一样本对象的图像；

按照像素点的位置分布，分别对所述至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点进行信息叠加，得到叠加后的第二图像样本，其中，至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点归属的特征类别均属于第一特征类别，则所述第二图像样本中该位置的像素点归属的特征类别为第一特征类别；

所述第二图像样本中属于第一特征类别的像素点满足条件，确定所述至少两个第一图像样本属于残迹图像。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

确定所述第一图像样本中各像素点所归属的特征类别；

所述按照像素点的位置分布，分别对所述至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点进行信息叠加，得到叠加后的第二图像样本，包括：

按照像素点的位置分布和所述第一图像样本中各像素点归属的特征类别，分别对所述至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点进行特征类别的叠加，得到叠加后的第二图像样本；

其中，信息叠加为像素点的特征类别的类别叠加；

所述第二图像样本中任一位置的像素点的像素点信息为叠加后的特征类别的信息。

3.根据权利要求1所述的方法，像素点归属的特征类别包括第一特征类别和第二特征类别；

其中，所述至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点不全部属于第一特征类别，则所述第二图像样本中该位置的像素点的特征类别为第二特征类别；

所述第二图像样本中属于第一特征类别的像素点满足条件，包括：

所述第二图像样本中属于第一特征类别的像素点和属于第二特征类别的像素点满足条件。

4.根据权利要求3所述的方法，所述第二图像样本中属于第一特征类别的像素点和属于第二特征类别的像素点满足条件，包括：

所述第二图像样本中属于第一特征类别的像素点与属于第二特征类别的像素点的比值大于设定比值。

5.根据权利要求3所述的方法，在所述按照像素点的位置分布，分别对所述至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点进行信息叠加，得到叠加后的第二图像样本之前，还包括：

对所述第一图像样本进行灰度和二值化处理，其中，在处理后的第一图像样本中，取值为0的像素点对应的特征类别为第一特征类别；取值为255的像素点对应的特征类别为第二特征类别。

6.根据权利要求5所述的方法，所述按照像素点的位置分布，分别对所述至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点进行信息叠加，得到叠加后的第二图像样本，包括：

按照像素点的位置分布，分别对所述至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点的取值进行叠加，得到叠加后的第二图像样本，其中，至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点的取值均为0，则所述第二图像样本中该位置的像素点的取值为0；所述至少两个第一图像样本中处于同一位置的像素点的取值不全部为0，则所述第二图像样本中该位置的像素点的取值为255。

7.根据权利要求4所述的方法，第二图像样本中属于第一特征类别的像素点和属于第二特征类别的像素点满足条件，确定所述至少两个图像样本属于残迹图像，包括：

确定所述第二图像样本中各像素点的取值相加所得的加和值，并确定所述第二图像样本中像素点的行数与所述第二图像样本中像素点的列数之间的乘积；

所述加和值与所述乘积之间的比值大于设定阈值，则确定所述至少两个第一图像样本属于残迹图像。

8.根据权利要求1所述的方法，所述至少两个第一图像样本为至少两个第一指纹图像，所述至少两个第一指纹图像为同一用户的同一个手指的指纹图像。