[发明专利]方位阵列侧向用均质地层残余电位差和主屏流比测试方法

权利要求书

1.方位阵列侧向用均质地层残余电位差和主屏流比测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、通过主监控电路量化测量主监控电路各级放大倍数、滤波特性、V/I转换系数、主电流大小、主监控电路的反馈系数；通过辅监控电路测试屏流参数，包括选频特性、电压转换系数和屏流大小，然后计算得到残余电位差和主屏流比；

S2、通过主屏流比测试电路测量残余电位差和主屏流比参数；

S3、将步骤S1计算获得的残余电位差和主屏流比和步骤S2测量获得的残余电位差和主屏流比进行比较，验证仪器参数是否达到设计指标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S1中，主监控电路包括依次连接的5级放大电路、高通和低通电路和反馈系数测试电路，5级放大电路并联连接V/I转换电路；测试模拟分压电阻网络为R’A1M1、R’M1M0、R’M0A0和R’A0A1，主监控输入端为M1、M0，测试电路信号源来自信号发生器分压信号，V/I转换电路V0断开能够进行主监控电路开环放大倍数测量，V/I电路与RVI串联组成V/I转换电路，实现主电流输出；RVI为V/I转换系数，主电流大小为V0/RVI；G1、G2、G3、G4、G5均为单独逐级测量，每一级单独调节信号发生器信号大小，测量前一级输出和本级输出电压值获得。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，第4级放大输出电位V0计算如下：

V0＝G1*G2*G3*G4*VM1M0

其中，G1、G2、G3、G4为各级放大倍数，VM1M0为分压网络R’M1M0上电压信号；

主监控放大倍数G计算如下：

G＝G1*G2*G3*G4

主监控电路的反馈系数K计算如下：

K＝(闭环后的V4/开环后的V4)*100％＝(闭环后的VM1M0/开环后的V M1M0)*100％主监控V/I转换系数KVI计算如下：

KVI＝I0/V0＝1/RVI

其中，I0为V/I转换电路的输出电流，V4为4级放大输出端电压。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S1中，辅监控电路中，初级线圈电位VOUT经功率驱动电路PA连接带通电路，带通电路经加法电路依次连接高通滤波和仪表运放，仪表运放连接屏流测试电阻RA2A1的A1、A2端的监督电极M2、M3，加法电路连接单频输入信号为Vi；次级线圈电位V1连接屏流测试电阻RA2A1；工作过程中，功率调整后的混频中各频率分量信号通过各自的屏流电路的Vi进行控制调整，测试电路中M2、M3置零或短接，测试初级线圈电位VOUT和单频DAC输出信号Vi。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，辅监控电路中屏流电压系数Kv为：

Kv＝V1/Vi＝(VOUT/N)/Vi＝VOUT/(N*Vi)

屏流大小IA1为：

IA1＝V1/RA2A1

其中，N为初级线圈和次级线圈匝数比，RA2A1为变压器输出端负载A2、A1之间的屏流测试电阻。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S2中，调节信号发生器输出Fi(Vi)，辅聚焦选频电路输入端短路接地，所有测试均为单频测试，主屏流比：

KA0A1＝IA0/IA1＝(VA0B/RA0B)/(V1/RA1B)

KM1M0＝((VM1-VM0)/VM0)*100％＝(VM1M0/VM0)*100％

IM1M0＝VM1M0/RM1M0

其中，RA0B、RA1B为正演综合电阻率，VA0B、V1为A0、A1端对回路电极B的测量电位差；KM1M0为实际测试过程残余电位差，使用VM1M0直接测量作为VM1-VM0。