[发明专利]一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备在审
申请号: | 202010251821.8 | 申请日: | 2020-04-01 |
公开(公告)号: | CN111257804A | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 赵芬霞;刘宏明 | 申请(专利权)人: | 湖州中芯半导体科技有限公司 |
主分类号: | G01R33/032 | 分类号: | G01R33/032 |
代理公司: | 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 | 代理人: | 邓凌云 |
地址: | 313000 浙江省湖州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 cvd 钻石 时间分辨率 磁场 测量 设备 | ||
本发明涉及磁场精密测量技术领域,且公开了一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,包括机体,机体通过电连接线电性连接有探头,探头内设有位于内部靠近前端位置的CVD钻石、单色激光器和微波线圈,机体的下端固定连接有底部设为开口的固定壳,固定壳靠近下端的内壁固定连接有托板,托板的上端和固定壳的顶部内壁之间转动连接有同一根调节螺杆,调节螺杆的下端贯穿伸出托板的下端且固定连接有转块。该基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,具备实现了一种不受操控序列死时间限制的高时间分辨率磁场强度测量,能够更好的满足实际磁场强度的测量需求的优点。
技术领域
本发明涉及磁场精密测量技术领域,具体为一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备。
背景技术
磁场测量指空间或磁性材料中磁通、磁通密度、磁通势、磁场强度等的测量。是磁学量测量的内容之一。空间的磁通密度与磁场强度成比例关系,空间磁场强度的测量,实质上也是磁通密度的测量。因而用磁强计测量的实际上是磁通密度。磁场测量主要利用磁测量仪器进行。按照被测磁场的性质,磁场测量分为恒定磁场测量和变化磁场测量。
目前的磁场强度测量设备时间分辨率低,受到的限制较大,不能很好的满足实际磁场强度的测量需求。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本发明提供了一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,具备实现了一种不受操控序列死时间限制的高时间分辨率磁场强度测量,能够更好的满足实际磁场强度的测量需求的优点,解决了目前的磁场强度测量设备时间分辨率低,受到的限制较大,不能很好的满足实际磁场强度的测量需求的问题。
(二)技术方案
为实现一种不受操控序列死时间限制的高时间分辨率磁场强度测量,能够更好的满足实际磁场强度的测量需求的目的,本发明提供如下技术方案:一种基于CVD钻石的高时间分辨率磁场测量设备,包括机体,所述机体通过电连接线电性连接有探头,所述探头内设有位于内部靠近前端位置的CVD钻石、单色激光器和微波线圈,所述机体的下端固定连接有底部设为开口的固定壳,所述固定壳靠近下端的内壁固定连接有托板,所述托板的上端和固定壳的顶部内壁之间转动连接有同一根调节螺杆,所述调节螺杆的下端贯穿伸出托板的下端且固定连接有转块,所述调节螺杆的杆壁螺纹连接有升降螺环,所述升降螺环的侧壁均匀铰接有多根推拉杆,所述推拉杆远离升降螺环的一端转动连接有倾斜设置的稳固板,所述稳固板的一端通过固定壳侧壁开设的开口伸出固定壳外;
所述机体的上端固定连接有工形结构的绕线杆,所述机体的上端侧壁还固定连接有第一半圆环板,所述第一半圆环板的后侧一端铰接有第二半圆环板,所述第二半圆环板的前端外壁固定连接有连接块,所述连接块的一端延伸至第一半圆环板的外侧,所述第一半圆环板的前端外壁固定连接有两个关于连接块上下对称设置的卡块,所述连接块和卡块之间通过紧固机构固定卡接,所述探头的外壁固定套接有两个关于第一半圆环板和第二半圆环板上下对称设置的固定环板。
优选的,所述机体的外壁固定连接有弹性绑带。
优选的,所述绕线杆的上端侧壁通过转轴转动连接有限位转板,所述限位转板的下端侧壁固定连接有限位插块,所述绕线杆的下端侧壁开设有与限位插块对应插接的限位插槽。
优选的,所述紧固机构包括通过卡块表面开设的插孔活动插设在卡块侧壁的紧固杆,所述连接块的侧壁开设有与紧固杆对应插接的紧固槽,所述紧固杆的一端伸出卡块外且固定连接有紧固板,所述紧固板和卡块相向一侧侧壁之间固定连接有同一个套设在紧固杆外的紧固弹簧。
优选的,所述第一半圆环板和第二半圆环板的内壁均固定连接有一层防滑耐磨橡胶垫。
优选的,所述限位转板具体为弹性塑料板。
优选的,所述稳固板至少设有三个。
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