[发明专利]一种工件缺陷定位方法在审

专利信息
申请号: 202010252112.1 申请日: 2020-04-01
公开(公告)号: CN111583084A 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 胡将;陆伟栋;薛文漪 申请(专利权)人: 杭州优视泰信息技术有限公司
主分类号: G06T1/00 分类号: G06T1/00;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/187
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 曹兆霞
地址: 310030 浙江省杭州市西湖区*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 工件 缺陷 定位 方法
【权利要求书】:

1.一种工件缺陷定位方法,其特征在于,实现所述工件缺陷定位方法的检测系统至少包括图像采集器,位置传感器、FPGA、与所述FPGA通信的处理器,所述工件缺陷定位方法包括:

所述FPGA控制所述图像采集器采集工件图像数据,并发送所述工件图像数据至所述处理器;

所述处理器根据工件图像数据检出缺陷并确定目标缺陷位置信息后,发送所述目标缺陷位置信息至所述FPGA;

所述FPGA根据所述位置传感器实时采集数据确定当前实际位置信息和工件运转速度信息,并根据工件运转速度信息和停机信号响应时间确定延迟距离,根据所述延迟距离在与所述目标缺陷位置距离所述延迟距离处的当前实际位置信息给出停机信号,以使工件刚好停留在目标缺陷位置。

2.如权利要求1所述的工件缺陷定位方法,其特征在于,所述FPGA以所述位置传感器采集信号为基础触发所述图像采集器进行工件图像采集。

3.如权利要求1所述的工件缺陷定位方法,其特征在于,所述处理器根据工件图像检出缺陷并确定目标缺陷位置信息包括:

处理器将通过分水岭算法从分割工件图像中分割出工件区域,逐像素点建立所述工件区域对应的灰度高斯模型并计算像素点灰度均值及方差,根据像素点的均值和方差对工件区域的像素点进行判断,根据判断结果构建工件目标缺陷区域以取得目标缺陷的图像坐标信息,然后并通过比例尺转换为物理坐标获得目标缺陷位置信息。

4.如权利要求1所述的工件缺陷定位方法,其特征在于,所述位置传感器实时采集数据确定当前实际位置信息和工件运转速度信息包括:

所述位置传感器每经过固定距离会产生一个上升沿信号,所述FPGA对所述位置传感器的信号上升沿进行计数,通过计数值确定工件运行经过的总长度,从而实时监测工件的当前实际位置信息;

所述FPGA通过统计单位时间内信号上升沿个数,可以获得工件运转速度信息。

5.如权利要求1所述的工件缺陷定位方法,其特征在于,所述根据工件运转速度信息和停机信号响应时间确定延迟距离包括:

工件运转速度与停机信号响应时间的乘积为延迟距离。

6.如权利要求1或5所述的工件缺陷定位方法,其特征在于,所述停机信号响应时间包括所述FPGA给出停机信号后系统响应时间和电机停止所需时间。

7.如权利要求1~6任一项所述的工件缺陷定位方法,其特征在于,所述工件缺陷定位方法还包括:

所述FPGA在给出停机信号的同时向所述处理器给出中断信号,通知所述处理器已给出停机信号并上传当前停机位置信息;

所述处理器在接收到中断信号后,根据当前停机位置显示对应有缺陷工件的采集图像。

8.如权利要求7所述的工件缺陷定位方法,其特征在于,所述FPGA与所述处理器通过PCI-E接口协议进行工件图像数据和目标缺陷位置信息。

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