[发明专利]存储性能测试分析方法及系统在审

专利信息
申请号: 202010254948.5 申请日: 2020-04-02
公开(公告)号: CN113496749A 公开(公告)日: 2021-10-12
发明(设计)人: 本條嵩騎;纪亮 申请(专利权)人: 深圳星火半导体科技有限公司
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 谢曲曲
地址: 518051 广东省深圳市南山区西丽街*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 存储 性能 测试 分析 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种存储性能测试分析方法,其特征在于,包括:

获取HOST端与固态存储设备之间传输的协议报文数据;

根据所述协议报文数据分析得到存储性能数据。

2.根据权利要求1所述的存储性能测试分析方法,其特征在于,所述的根据所述协议报文数据分析得到存储性能数据的步骤具体包括:

获取协议报文数据中读/写指令对应的起始时间、结束时间、区块大小以及区块个数;

根据所述读/写指令对应的起始时间、结束时间、区块大小以及区块个数得到读/写性能数据。

3.根据权利要求2所述的存储性能测试分析方法,其特征在于,所述的根据所述读/写指令对应的起始时间、结束时间、区块个数以及扇区大小得到读/写性能数据的步骤具体包括:

根据以下计算公式得到所述读/写性能数据:

Spend Time=End Time2-Start Time1;

Sector Count=Block Count×Block Size;

Performance=Sector Count/Spend Time;

式中,Spend Time表示传输所述读/写指令中指定数据的耗费时长,End Time2表示所述读/写指令对应的结束时间,Start Time1表示所述读/写指令对应的起始时间,Blockcount表示所述读/写指令对应的区块个数,Block size表示所述HOST端设定的区块大小,Sector Count表示读/写指令对应的传输数据字节数,Performance表示所述读/写性能数据。

4.根据权利要求1所述的存储性能测试分析方法,其特征在于,还包括:

根据所述存储性能数据绘制性能图。

5.根据权利要求3所述的存储性能测试分析方法,其特征在于,还包括:

绘制以横坐标为传输各所述读/写指令对应的时间,纵坐标为各所述读/写指令对应的读/写性能数据的性能图。

6.根据权利要求3所述的存储性能测试分析方法,其特征在于,还包括:

绘制以横坐标为不同的所述传输数据字节数,纵坐标为与各不同的所述传输数据字节数相对应所述读/写指令的读/写性能数据的性能图。

7.根据权利要求1所述的存储性能测试分析方法,其特征在于:

所述的固态存储设备包括SD、TF、eMMC、NM中的任意一种。

8.一种存储性能测试分析系统,其特征在于,包括:

采集模块,用于获取HOST端与固态存储设备之间传输的协议报文数据;

分析处理模块,用于根据所述协议报文数据分析得到存储性能数据。

9.根据权利要求8所述的存储性能测试分析系统,其特征在于:

所述的采集模块包括协议分析仪或抓包工具。

10.根据权利要求8所述的存储性能测试分析系统,其特征在于,还包括:

绘制模块,用于根据所述存储性能数据绘制性能图。

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