[发明专利]一种红光发光二极管的外延片及其制备方法有效
申请号: | 202010255943.4 | 申请日: | 2020-04-02 |
公开(公告)号: | CN113451471B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | 黄文洋;林雅雯;黄国栋;黄嘉宏;杨顺贵 | 申请(专利权)人: | 重庆康佳光电技术研究院有限公司 |
主分类号: | H01L33/30 | 分类号: | H01L33/30;H01L33/00;H01L33/06 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 徐凯凯 |
地址: | 402760 重庆市璧*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红光 发光二极管 外延 及其 制备 方法 | ||
本发明提供了一种红光发光二极管的外延片及其制备方法,通过将n型半导体层设计成铝元素的含量沿所述外延片的生长方向逐渐增加,铟元素的含量沿所述外延片的层叠方向逐渐降低的渐变层,搭配铝元素、铟元素的含量沿所述外延片的生长方向不变的固定层,使得在靠近多量子阱层一侧的势垒逐渐升高,可限制多阱量子层中用于辐射复合的电子及空穴向MQW区外的游离,限制空穴与电子在MQW中进行辐射复合减少非辐射复合,同时也有利于n层的电子向MQW区的流动,进而增加了流向MQW区域中复合的光子数,提升了发光效率。
技术领域
本发明涉及发光二极管制备技术领域,特别涉及一种红光发光二极管的外延片及其制备方法。
背景技术
现有红光发光二极管(light emitting diode,简称LED)外延结构主要为在砷化镓(GaAs)衬底上生长n型GaAs缓冲层、n型分布式布拉格(distributed Bragg reflection简称DBR)反射层、n型限制层、多量子阱(MQW)发光层、p型限制层、p型磷化镓(GaP)电流扩展层。其中,p型限制层及n型限制层使得p区的空穴与n区的电子在MQW中复合发光,但是常规p型限制层及n型限制层在限制电子和空穴在MQW区域复合的同时又会阻挡p层空穴和n层电子向MQW区的流动,进而影响到发光效率。
因而,现有技术还有待改进和提高。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种红光发光二极管的外延片及其制备方法,旨在解决现有红光发光二极管发光效率低的问题。
本发明的技术方案如下:
一种红光发光二极管的外延片,其中,包括:依次层叠设置的n型半导体层、多量子阱层、p型半导体层;
所述n型半导体层包括第一n型限制层和第二n型限制层;
所述第一n型限制层包括铝元素和铟元素,所述第二n型限制层包括铝元素和铟元素;
所述第一n型限制层中铝元素的含量沿所述外延片生长的方向逐渐增加,铟元素的含量沿所述外延片的生长方向逐渐降低,所述第二n型限制层中铝元素、铟元素的含量沿所述外延片的生长方向不变。
可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第一n型限制层为掺n型杂质的AlaIn1-aP层,a的值沿所述外延片的生长方向从0.1逐渐增大到x,其中,0.3<x<0.7。
可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第二n型限制层为掺n型杂质的AlxIn1-xP层。
可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第一n型限制层的厚度为40-120nm。
可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述p型半导体层包括依次层叠的第一p型限制层、第二p型限制层,所述第一p型限制层包括铝元素和铟元素,所述第二p型限制层包括铝元素和铟元素,所述第一p型限制层中铝元素、铟元素的含量沿所述外延片的生长方向不变,所述第二p型限制层中铝元素的含量沿所述外延片的生长方向逐渐降低,铟元素的含量沿所述外延片的生长方向逐渐增加。
可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第二p型限制层为掺p型杂质的AlbIn1-bP层,b的值沿所述外延片的生长方向逐渐从y减小到0.1,其中,0.3<y<0.7。
可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第一p型限制层为掺p型杂质的AlyIn1-yP的p层。
可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第一n型限制层的厚度为40-120nm。
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