[发明专利]一种红光发光二极管的外延片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010255943.4 申请日: 2020-04-02
公开(公告)号: CN113451471B 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 黄文洋;林雅雯;黄国栋;黄嘉宏;杨顺贵 申请(专利权)人: 重庆康佳光电技术研究院有限公司
主分类号: H01L33/30 分类号: H01L33/30;H01L33/00;H01L33/06
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 徐凯凯
地址: 402760 重庆市璧*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 红光 发光二极管 外延 及其 制备 方法
【说明书】:

发明提供了一种红光发光二极管的外延片及其制备方法,通过将n型半导体层设计成铝元素的含量沿所述外延片的生长方向逐渐增加,铟元素的含量沿所述外延片的层叠方向逐渐降低的渐变层,搭配铝元素、铟元素的含量沿所述外延片的生长方向不变的固定层,使得在靠近多量子阱层一侧的势垒逐渐升高,可限制多阱量子层中用于辐射复合的电子及空穴向MQW区外的游离,限制空穴与电子在MQW中进行辐射复合减少非辐射复合,同时也有利于n层的电子向MQW区的流动,进而增加了流向MQW区域中复合的光子数,提升了发光效率。

技术领域

本发明涉及发光二极管制备技术领域,特别涉及一种红光发光二极管的外延片及其制备方法。

背景技术

现有红光发光二极管(light emitting diode,简称LED)外延结构主要为在砷化镓(GaAs)衬底上生长n型GaAs缓冲层、n型分布式布拉格(distributed Bragg reflection简称DBR)反射层、n型限制层、多量子阱(MQW)发光层、p型限制层、p型磷化镓(GaP)电流扩展层。其中,p型限制层及n型限制层使得p区的空穴与n区的电子在MQW中复合发光,但是常规p型限制层及n型限制层在限制电子和空穴在MQW区域复合的同时又会阻挡p层空穴和n层电子向MQW区的流动,进而影响到发光效率。

因而,现有技术还有待改进和提高。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足,本发明的目的在于提供一种红光发光二极管的外延片及其制备方法,旨在解决现有红光发光二极管发光效率低的问题。

本发明的技术方案如下:

一种红光发光二极管的外延片,其中,包括:依次层叠设置的n型半导体层、多量子阱层、p型半导体层;

所述n型半导体层包括第一n型限制层和第二n型限制层;

所述第一n型限制层包括铝元素和铟元素,所述第二n型限制层包括铝元素和铟元素;

所述第一n型限制层中铝元素的含量沿所述外延片生长的方向逐渐增加,铟元素的含量沿所述外延片的生长方向逐渐降低,所述第二n型限制层中铝元素、铟元素的含量沿所述外延片的生长方向不变。

可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第一n型限制层为掺n型杂质的AlaIn1-aP层,a的值沿所述外延片的生长方向从0.1逐渐增大到x,其中,0.3<x<0.7。

可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第二n型限制层为掺n型杂质的AlxIn1-xP层。

可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第一n型限制层的厚度为40-120nm。

可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述p型半导体层包括依次层叠的第一p型限制层、第二p型限制层,所述第一p型限制层包括铝元素和铟元素,所述第二p型限制层包括铝元素和铟元素,所述第一p型限制层中铝元素、铟元素的含量沿所述外延片的生长方向不变,所述第二p型限制层中铝元素的含量沿所述外延片的生长方向逐渐降低,铟元素的含量沿所述外延片的生长方向逐渐增加。

可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第二p型限制层为掺p型杂质的AlbIn1-bP层,b的值沿所述外延片的生长方向逐渐从y减小到0.1,其中,0.3<y<0.7。

可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第一p型限制层为掺p型杂质的AlyIn1-yP的p层。

可选地,所述的红光发光二极管的外延片,其中,所述第一n型限制层的厚度为40-120nm。

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