[发明专利]一种诊断装置、方法和芯片

说明书

本发明的实施例提供了一种诊断装置、方法和芯片，涉及芯片测试技术领域。该诊断装置应用于芯片，该诊断装置包括可编程诊断器单元，芯片包括待测模块，待测模块与可编程诊断器单元电连接；可编程诊断器单元用于根据预设规则对待测模块输出的测试信号进行问题诊断，得到输出结果；其中，预设规则依据芯片的问题设计得到，且所述芯片的问题不同设计得到的所述预设规则不一致。本发明实施例提供的诊断装置、方法和芯片，其能够灵活、高效、准确的定位问题。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种诊断装置、方法和芯片。

背景技术

目前芯片的调试手段要么因获取的调试信息的局限性，使得定位问题的效率和准确性有限；或者因在芯片设计阶段对如何输出调试信息，将相关的硬件进行固定设置，使得芯片的调试不具有灵活性。

发明内容

本发明的目的包括，例如，提供了一种诊断装置、方法和芯片，其能够灵活、高效、准确的定位问题。

本发明的实施例可以这样实现：

第一方面，本发明实施例提供一种诊断装置，应用于芯片，所述诊断装置包括可编程诊断器单元，所述芯片包括待测模块，所述待测模块与所述可编程诊断器单元电连接；

所述可编程诊断器单元用于根据预设规则对所述待测模块输出的测试信号进行问题诊断，得到输出结果；其中，所述预设规则依据所述芯片的问题设计得到，且所述芯片的问题不同设计得到的所述预设规则不一致。

第二方面，本发明实施例提供一种诊断方法，应用于诊断装置，所述诊断装置应用于芯片，所述芯片包括待测模块，所述诊断装置包括可编程诊断器单元，所述待测模块与所述可编程诊断器单元电连接，所述方法包括：

所述可编程诊断器单元接收所述待测模块输出的测试信号；

所述可编程诊断器单元根据预设规则对所述测试信号进行问题诊断，得到输出结果；其中，所述预设规则依据所述芯片的问题设计得到，且所述芯片的问题不同设计得到的所述预设规则不一致。

第三方面，本发明实施例提供一种芯片，包括待测模块和前述实施方式所述的诊断装置。

本发明实施例提供的一种诊断装置、方法和芯片的有益效果为：该诊断装置应用于芯片，该诊断装置包括可编程诊断器单元，芯片包括待测模块，待测模块与可编程诊断器单元电连接；可编程诊断器单元用于根据预设规则对待测模块输出的测试信号进行问题诊断，得到输出结果；其中，预设规则依据芯片的问题设计得到，且所述芯片的问题不同设计得到的所述预设规则不一致。可见，依据可编程诊断器单元的可编程性，在芯片流片后的测试阶段可以依据芯片的问题灵活而重复定义不同的预设规则，使诊断装置检测芯片不同的问题，从而快速缩小问题范围，快速对可能的问题进行证明。同时可编程诊断器单元直接与芯片的待测模块直接电连接，可以直接获取到芯片内部调试信息，使得诊断装置能够快速高效的完成现场问题的抓取，加速芯片的调试工作，有效地缩短芯片的调试周期。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本发明实施例提供的一种芯片的结构框图；

图2为本发明实施例提供的一种诊断装置的结构框图；

图3为本发明实施例提供的一种测试信号的压缩处理示意图；

图4为本发明实施例提供的诊断装置的问题诊断示意图；

图5为本发明实施例提供的一种诊断方法流程示意图；