[发明专利]一种圆形阵列标定板中圆心像素坐标确定方法有效

专利信息
申请号: 202010257084.2 申请日: 2020-04-02
公开(公告)号: CN111462216B 公开(公告)日: 2023-09-19
发明(设计)人: 杜泽翰;邓梦璐;章苗红;高一凡 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
主分类号: G06T7/60 分类号: G06T7/60;G06T7/80
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 付建军
地址: 100095 北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 圆形 阵列 标定 圆心 像素 坐标 确定 方法
【说明书】:

发明公开了一种圆形阵列标定板中圆心像素坐标确定方法,包括:利用被标定相机拍摄得到包括圆形阵列标定板及其背景的原始图案;对原始图案进行自卷积处理,估算圆形阵列中心坐标;利用旋转直线法测量圆形阵列的倾角;测量圆形阵列相邻圆形的圆心间距;根据所得到的中心坐标、倾角、圆心间距,推演圆形阵列各圆心像素坐标;利用质心法迭代优化各圆心像素坐标。本发明能够有效提高圆形阵列的标定精度与标定效率。

技术领域

本发明属于图像处理技术领域,特别是涉及一种圆形阵列标定板中圆心像素坐标确定方法。

背景技术

标定板广泛应用于机器视觉、图像测量、摄影测量及三维重建中,为校正镜头畸变、确定物理尺寸及像素间的换算关系提供原始目标图案。相机标定是进行三维测量和三维重建的重要一步。相机标定的途径是根据相机模型,由已知特征点的图像坐标和世界坐标求解相机的模型参数,特征点提取的精度直接决定标定结果。

目前相机标定采用较多的是二维平面标定板,有棋盘格标定板、圆形阵列标定板和网格标定板等。在光学测量领域,圆形是极为常见的一种图形特征,与棋盘格标定板或网格标定板的角点提取相比,圆形识别具有成功率高、噪声抑制性强、且对分割阈值不敏感等特点,在实际视觉系统中承担重要作用,应用更为广泛。

目前,圆形阵列的标定存在一些问题。一方面,标定过程受标定板自身背景及标定板以外复杂背景的影响,会造成像素坐标计算错误。另一方面,标定过程需要通过目视估计,输入圆形半径像素数或圆心间距像素数等参数,一旦参数设置不当可能会引起标定结果无效。因此,需要设计一种不依赖于目视估计、输入参数的计算方法,提升圆形阵列的标定精度与标定效率。

发明内容

本发明的目的是提供一种圆形阵列标定板中圆心像素坐标确定方法,能够有效提高圆形阵列的标定精度与标定效率。

为了实现上述目的,本发明实施例提供一种圆形阵列标定板中圆心像素坐标确定方法,包括:利用被标定相机拍摄得到包括圆形阵列标定板及其背景的原始图案;对原始图案进行自卷积处理,估算圆形阵列中心坐标;利用旋转直线法测量圆形阵列的倾角;测量圆形阵列相邻圆形的圆心间距;根据所得到的中心坐标、倾角、圆心间距,推演圆形阵列各圆心像素坐标;利用质心法迭代优化各圆心像素坐标。

优选地,所述对原始图案进行自卷积处理,估算圆形阵列中心坐标包括:对原始图案进行图像灰度化处理,得到第一图像;将第一图像与其自身进行卷积计算,得到自卷积结果,作为第二图像;取第二图像灰度最大值处的像素坐标,根据自卷积原理,得到估算的圆形阵列中心坐标。

优选地,所述利用旋转直线法测量圆形阵列的倾角包括:在与第二图像大小相同的空白图像上,构造通过所述圆形阵列中心坐标、水平倾角不同的直线,设直线经过的像素点灰度值为1、其余像素点灰度值为0,得到图像组,计算该图像组中每一幅图像与第二图像的点乘结果得到数组;取所述数组中的最大值所对应的水平倾角作为圆形阵列的倾角。

优选地,水平倾角不同的直线包括水平倾角由0°起,每次增加规定角度,直至水平倾角大于180°的一组直线。

优选地,所述测量圆形阵列相邻圆形的圆心间距包括:对第一图像进行二值化处理,得到第三图像;在与第三图像大小相同的空白图像上,构造以所述所述圆形阵列中心坐标为圆心、半径不同的圆,设圆内像素点灰度为1,圆外像素点灰度为0,得到第四图像;根据第四图像与第三图像的交集像素点数变化规律,计算相邻圆形的圆心间距。

优选地,根据第四图像与第三图像的交集像素点数变化规律,计算相邻圆形的圆心间距,包括:构造以所述圆形阵列中心坐标为圆心、半径为1的圆,得到第四图像;计算第四图像与第三图像的交集图像,统计图像中灰度为1的点的个数,记为p;每次增加半径增量dr,直至p不再增加,此时的半径记为dmin;继续增加半径增量dr,直至p再次增加,此时的半径记为dmax;计算获得相邻圆形的圆心间距D:D=dmax+dmin。

优选地,所述半径增量dr满足:0<dr≤1。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所,未经中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010257084.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top