[发明专利]玻璃渗锡量的检测方法

说明书

本发明公开一种玻璃渗锡量的检测方法，包括：选取一组标准样品，给定其标准锡计数；通过X射线荧光光谱仪测得该组标准样品的实际锡计数；确立标准锡计数与实际锡计数之间的线性关系取一未知样品，通过X射线荧光光谱仪测得该未知样品的实际锡计数为c；通过该未知样品的实际锡计数c及线性关系换算出该未知样品的标准锡计数b。在本发明的技术方案中，通过标准样品确立实际锡计数与标准锡计数之间的线性关系再用X射线荧光光谱仪测得未知样品的实际锡计数，通线性关系将未知样品的实际锡计数换算成标准锡计数，这样就消除了仪器带来的偏差，精确地测量浮法玻璃的渗锡量。

技术领域

本发明涉及玻璃生产领域，特别涉及一种玻璃渗锡量的检测方法。

背景技术

国内外不少专业人士都在探索浮法玻璃表面渗锡量的定量测定方法。有人用俄歇电子能谱方法，有人采用试样侧面的电子显微探针分析法等。我国浮法玻璃厂广泛运用了X射线荧光光谱仪，采用直接测量浮法玻璃表面，得到锡元素的荧光谱线强度值，即通常所说的“锡计数”(TinCounts)，锡计数越大表明锡元素含量越高。

现有的X射线荧光光谱法制样简单，可直接从成品玻璃上切裁下样品，清洁后即可放入仪器样品室检测锡计数。但是“锡计数”毕竟是锡元素的荧光光谱线强度值，同一块玻璃在不同的X射线荧光光谱仪上可能得到不同的“锡计数”，或者同一块玻璃在不同时间段内，在同一台X射线荧光光谱仪上测试，可能得到不同的“锡计数”。因为不同的仪器可能有不同的仪器参数和测量条件，所以在不同仪器上测得的“锡计数”会有偏差；同一台仪器在不同的时间段，受环境温度、湿度、使用损耗的影响，测得的“锡计数”也会有偏差。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种玻璃渗锡量的检测方法，旨在精确测量浮法玻璃的渗锡量，消除仪器测量带来的偏差。

为实现上述目的，本发明提出的玻璃渗锡量的检测方法，包括以下步骤：

选取一组标准样品，给定其标准锡计数为B1、B2、......、Bn-1、Bn；

通过X射线荧光光谱仪测得该组标准样品的实际锡计数为C1、C2、......、Cn-1、Cn；

通过B1、B2、......、Bn-1、Bn与C1、C2、......、Cn-1、Cn确立标准锡计数与实际锡计数之间的线性关系

取一未知样品，通过X射线荧光光谱仪测得该未知样品的实际锡计数为c；

通过该未知样品的实际锡计数c及线性关系换算出该未知样品的标准锡计数b。

可选地，测定该组标准样品的渗锡量为A1、A2、......、An-1、An；

通过B1、B2、......、Bn-1、Bn与A1、A2、......、An-1、An确立标准锡计数与渗锡量之间的线性关系f(x)；

通过该未知样品的标准锡计数b及线性关系f(x)换算出该未知样品的渗锡量a。

可选地，采用可见光分光光度法测定该组标准样品的渗锡量。

可选地，取一未知样品，通过X射线荧光光谱仪对该未知样品测试m次，得到该未知样品的实际锡计数为c1、c2、......、cm-1、cm，并计算平均实际锡计数

通过该未知样品的平均实际锡计数及线性关系换算出该未知样品的标准锡计数b。

可选地，所述m大于或等于5。

可选地，所述标准样品的数量n大于或等于5。

可选地，所述X射线荧光光谱仪采用锡元素的La谱线作为测量用谱线。