[发明专利]一种空间电磁干扰可视化诊断装置

说明书

本发明公开了一种空间电磁干扰可视化诊断装置，所述诊断装置包括基台、摄像机、近场探头、标识球和上位机，所述摄像机安装于所述基台上，近场探头的尾部连接所述的标识球，并且所述近场探头和所述摄像机还连接所述的上位机；所述摄像机具有两个平行设置的第一摄像头和一个第二摄像头，利用两个第一摄像头的机器视觉获取所述标识球的实时空间坐标，进而获得近场探头的实时空间坐标，上位机获取近场探头于该实时空间坐标位置探测的实时EMI测试值，将实时EMI测试值转化为能够辨别电磁干扰强度大小的可视化信息，第二摄像头用于获取待诊断产品的图像。本发明既可用于产品干扰位置的溯源，又可直观显示电磁干扰的变化规律。

技术领域

本发明涉及一种空间电磁干扰可视化诊断装置。

背景技术

随着科学技术的快速发展，应用电子技术的电器电子产品越来越多，该类产品的工作频率也不断提高，使得电磁兼容问题也日益突出。现在的汽车上都安装有大量的电器电子产品，为保证各电器电子产品的安全运行，需保障各产品之间具有良好的电磁兼容性，故需要对汽车的众多电磁干扰信号进行有效模式识别，进一步准确的了解和掌握电磁干扰信号的特征，这一过程电磁干扰诊断，对于分析汽车上电器电子产品以及其他电器电子产品的电磁发射、电磁干扰源有着十分重要的意义。

电器电子产品电磁干扰诊断的方式通常有两种，一种是远场测量，例如在半电波暗室中，在距离产品3m或更大的距离，通过EMI(电磁干扰)接收机和精确校准后的天线测试产品，得到产品上各个频率点的电磁干扰强度，确定产品EMI是否符合标准要求。另一种是利用频谱分析仪和近场探头分析确定电磁干扰强度。

当电器电子产品的EMI测试数据超过标准线值时，需找出产品中EMI不合格的子系统，即超标干扰源，然后对其整改。现有的电器电子产品EMI干扰源的定位方法主要是：通过近场探头配合频谱分析仪来查找干扰源的大概位置，该方式不能实现对干扰源信息的实时记录，对二次解决干扰源的带来的EMC问题帮助有限，已经达不到电器电子产品EMI诊断的要求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种空间电磁干扰可视化诊断装置。既可用于电器电子产品干扰位置的定位溯源，又可通过可视化信息直观显示EMI测试值的大小，具体形象的获取电器电子产品EMI测试值的变化规律。

本发明采用的技术方案：

所述诊断装置包括基台、摄像机、近场探头、标识球和上位机，所述摄像机安装于所述基台上，所述近场探头的尾部连接所述的标识球，并且所述近场探头和所述摄像机还连接所述的上位机；

所述摄像机具有两个平行设置的第一摄像头和一个第二摄像头，利用两个第一摄像头的机器视觉获取所述标识球的实时空间坐标，进而获得所述近场探头的实时空间坐标，所述上位机获取所述近场探头于该实时空间坐标位置探测的实时EMI测试值，将所述的实时EMI测试值转化为能够辨别电磁干扰强度大小的可视化信息，所述第二摄像头用于获取待诊断产品的图像并将图像上传至所述上位机。

采用手持近场探头测试电器电子产品的EMI测试值时，可通过本发明摄像机的机器视觉获取近场探头的实时空间坐标，将该实时空间坐标及与其对应位置近场探头探测的EMI测试值同步记录下来，用于干扰位置的溯源。

本发明可做以下优选设计：

通过所述上位机建立所述近场探头的位置分布模型，所述位置分布模型为长方体，并且将所述长方体分割为若干体积相等的正方体，通过两个第一摄像头获取的所述标识球的各个空间坐标对应转换为所述位置分布模型内的模型坐标，使标识球所在的每个测试位置均与所述的正方体内的模型坐标相对应，与所述标识球连接的近场探头探测的实时EMI测试值显示在对应的正方体上。