[发明专利]印刷电路板的缺陷检测方法、系统、电子装置及存储介质

权利要求书

1.一种印刷电路板的缺陷检测方法，其特征在于，包括：

采集在当前检测情景中印刷电路板的待检图像；

对所述待检图像进行编码，得到所述待检图像在空间维度上的低层特征，并得到所述待检图像在空间维度上去除所述低层特征后的剩余特征，并将所述剩余特征记做高层特征；

对所述低层特征及所述高层特征进行解码，并使用空间维度的注意力及特征通道维度的注意力将所述低层特征及所述高层特征进行融合，得到待检融合结果；其中，解码过程采用解码器，所述解码器由三个串行拼接的全局上采样注意力模块构成，且在所述全局上采样注意力模块中，采用两个并联的SE模块分别提取所述高层特征的全局平均信息和全局最大信息以得到所述特征通道维度的注意力，采用空洞卷积获取空间维度上的感受野以得到所述空间维度的注意力；

对比预先设置的标准图像的标准融合结果及所述待检融合结果，对待检图像中涉及的印刷电路板的缺陷进行判断。

2.一种印刷电路板的缺陷检测系统，其特征在于，包括：

图像采集模块，用于采集在当前检测情景中印刷电路板的待检图像；

特征提取模块，用于将所述图像采集模块采集的待检图像进行编码，得到所述待检图像在空间维度上的低层特征，并得到所述待检图像在空间维度上去除所述低层特征后的剩余特征，并将所述剩余特征记做高层特征；

特征融合模块，用于将所述特征提取模块提取的低层特征及高层特征进行解码，并使用空间维度的注意力及特征通道维度的注意力将所述低层特征及所述高层特征进行融合，得到待检融合结果；其中，解码过程采用解码器，所述解码器由三个串行拼接的全局上采样注意力模块构成，且在所述全局上采样注意力模块中，采用两个并联的SE模块分别提取所述高层特征的全局平均信息和全局最大信息以得到所述特征通道维度的注意力，采用空洞卷积获取空间维度上的感受野以得到所述空间维度的注意力；

对比检测模块，对比所述特征融合模块的待检融合结果及预先设置的标准图像的标准融合结果，对所述图像采集模块采集的待检图像中涉及的印刷电路板的缺陷进行判断。

3.一种电子装置，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时，实现权利要求1中的所述印刷电路板的缺陷检测方法。

4.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，实现权利要求1中的所述印刷电路板的缺陷检测方法。