[发明专利]一种口罩缺陷视觉检测方法、设备、存储介质在审
申请号: | 202010258816.X | 申请日: | 2020-04-03 |
公开(公告)号: | CN111458344A | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 张俊峰;叶长春;黄家富 | 申请(专利权)人: | 广州超音速自动化科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89;G01N21/892 |
代理公司: | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 雷兴领 |
地址: | 511400 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 口罩 缺陷 视觉 检测 方法 设备 存储 介质 | ||
1.口罩缺陷视觉检测方法,其特征在于,通过口罩缺陷视觉检测机构实现,所述口罩缺陷视觉检测机构包括视觉检测装置,包括以下步骤:
S1、获取待测口罩的型号以及参数信息;
S2、根据型号以及参数信息匹配得出对应的拍照环境,调整口罩缺陷视觉检测机构;
S3、所述待测口罩通过传输通道依次进入第一检测位与第二检测位,位于第一检测位或第二检测位的视觉检测装置采集待测口罩的图像,提取所述待测口罩图像的特征信息;
S4、依次对第一检测位与第二检测位的待测口罩图像的特征信息与预设口罩的参数信息进行比对,根据比对结果判断所述待测口罩为良品或者瑕疵品。
2.如权利要求1所述的口罩缺陷视觉检测方法,其特征在于,S3中提取待测口罩图像的特征信息包括以下步骤:
S31、将所述图像转换成灰度图,对灰度图做二值化处理,并计算所述灰度图与预设口罩的灰度图的偏差,得到差值图像;
S32、根据边缘滤波算法得出待测口罩的特征信息。
3.如权利要求2所述的口罩缺陷视觉检测方法,其特征在于,S4还包括:
根据特征信息对待测口罩的图像进行固定阈值二值化处理,计算非零点口罩像素总数,判断所述口罩像素总数是否处于预设的阈值范围内;若是,则该待测口罩为良品,若不是,则该待测口罩为瑕疵品。
4.如权利要求1所述的口罩缺陷视觉检测方法,其特征在于,位于第一检测位的视觉检测装置用于获取待测口罩正面的图像,位于第二检测位的视觉检测装置用于获取待测口罩背面的图像。
5.如权利要求1所述的口罩缺陷视觉检测方法,其特征在于,所述口罩缺陷视觉检测机构还包括光源组件,所述光源组件包括第一光源组件与第二光源组件,所述第一光源组件位于所述传输通道的上侧,所述第二光源组件位于所述传输通道的下侧,设置于第一检测位的视觉检测装置位于所述第一光源组件远离传输通道一侧。
6.如权利要求1所述的口罩缺陷视觉检测方法,其特征在于,所述参数信息包括口罩的尺寸、颜色以及口罩的定位信息。
7.如权利要求3所述的口罩缺陷视觉检测方法,其特征在于,还包括以下步骤:
S5、当所述待测口罩为良品时,所述待测口罩经传输装置运输至产品合格区;当所述待测口罩为瑕疵品时,所述待测口罩经传输装置运输至产品不合格区。
8.一种设备,其特征在于,其包括处理器、存储器及存储于所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1~7任一所述口罩缺陷视觉检测方法。
9.一种存储介质,其特征在于,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被执行时实现权利要求1~7任一所述口罩缺陷视觉检测方法。
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