[发明专利]一种消除积液影响的气井产能评价方法

权利要求书

1.一种消除积液影响的气井产能评价方法，其特征在于，该方法的步骤如下：

(1)收集关于气井的基础数据，包括天然气的相对密度γ_g，地层深度H，地层压力P_R，产能测试时的井口套压P_t、井底压力P_wfac和产量q_gac；

(2)基于步骤(1)中获得的天然气的相对密度γ_g、地层深度H、气井在产能测试时的井口套压P_t，确定从气井的井口到井底处油套环空内静止气柱所产生的压力，计算得到不积液条件下气井的井底压力P_wfn；

(3)根据拟压力定义式计算得到地层压力的拟压力Ψ(P_R)、气井不积液条件下的井底压力的拟压力Ψ(P_wfn)，以及气井积液时的井底压力的拟压力Ψ(P_wfac)；

上述的拟压力定义式中，P_a为大气压力，u_g为气体粘度，Z为气体偏差因子；

(4)根据步骤(1)中气井积液条件下的产量q_gac和步骤(3)中的拟压力Ψ(P_R)、Ψ(P_wfn)、Ψ(P_wfac)，确定积液气井在不积液条件下的产量q_gn，所述气井在不积液条件下的产量q_gn的计算式为：

(5)根据步骤(4)中获得的积液气井在不积液条件下的产量q_gn和步骤(2)中获得的不积液条件下气井的井底压力P_wfn，计算得到消除气井积液影响后的无阻流量。

2.根据权利要求1所述的消除积液影响的气井产能评价方法，其特征在于，所述消除气井积液影响后的无阻流量的计算式如下：

其中，q_AOFN为消除气井积液影响后的无阻流量。

3.根据权利要求1所述的消除积液影响的气井产能评价方法，其特征在于，收集关于气井的基础数据还包括：产能测试过程中井筒内流体的温度梯度T_grad，产能测试时的井口流体温度T_head；

基于步骤(1)中获得的地层深度H、井筒内流体的温度体度T_grad和井口流体温度T_head，采用油气藏工程方法获得井筒内流体的平均温度

基于步骤(1)中获得的天然气的相对密度γ_g、地层深度H、气井在产能测试时的井口套压P_t和前面计算得到的井筒内流体平均温度采用静止气柱井底压力模型计算得到积液气井在不积液条件下的井底压力P_wfn；或者采用模型计算得到积液气井在不积液条件下的井底压力P_wfn，式中，T为油套环空内深度为h处的井筒气体温度，Z为气体偏差因子。