[发明专利]校正分析传感器测量数据的方法和校正测量数据的传感器

说明书

本发明涉及一种用于校正分析传感器的测量数据的方法和校正测量数据的传感器。该方法包括以下步骤：提供具有第一传感器单元(2)、数据存储器(3)、和计算单元(4)的分析传感器(1)，其中，数据存储器(3)具有传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据，其表示分析传感器(1)的预定应用领域；通过第一传感器单元(2)收集测量数据；通过计算单元(4)从数据存储器(3)中读取传感器特定的参数数据；通过计算单元(4)借助于传感器特定的参数数据校正收集的测量数据，以便生成校正的测量数据。

技术领域

本发明涉及用于校正分析传感器的测量数据的两种方法，并且涉及校正测量数据的分析传感器。

背景技术

在分析测量技术中，尤其是在水管理和环境分析领域以及在工业中，例如在食品技术、生物技术和制药中，以及在各种实验室应用中，诸如分析物的pH值、电导率或浓度的被测变量至关重要，分析物诸如气态或液态测量介质中的离子或溶解气体。可以借助于诸如电位传感器、电流传感器、伏安传感器或库仑传感器的分析传感器来检测和/或监控这些被测变量，这些传感器本身都是现有技术中已知的。

这种分析传感器通常在上级设备上运行，例如测量传感器或测量值变送器。

取决于分析传感器的技术设计和取决于应用领域，分析传感器要暴露在非常特定的操作条件下，例如特定温度范围、特定pH范围等。分析传感器的操作条件会影响即篡改分析传感器所测量的测量值。此外，用于确定相同被测变量的不同地设计的分析传感器和传感器类型在其测量属性或对操作条件的其他依赖性方面可以具有不同的行为。因此，在评估测量值时可以考虑该传感器特定的行为，因此对于不同地设计的分析传感器，在相同的操作条件下，测量值不会被篡改，并且测量值也不会不同，用户必须将分析传感器的操作条件以及从分析传感器的设计所产生的属性以传感器特定参数数据的形式存储在与分析传感器相连的上级外部设备中。

借助于传感器特定的参数化，然后可以在分析传感器或连接到分析传感器的设备中校正由分析传感器确定的测量值；也就是说，它们可以适应于操作条件。此外，传感器特定的参数化能够评估传感器状态；例如，特征曲线是否已移位，或者分析传感器是否已通过特定传感器类型的灭菌或清洁过程的最大允许数量。

然而，该传感器特定的参数化对于用户来说很耗时，并且在设置不正确的情况下会导致通过分析传感器的测量错误。特别是如果用户希望对多个分析传感器进行参数化，而每个分析传感器都在不同的操作条件下操作，则由用户的错误设置的风险特别高，因为用户必须执行必须不被彼此混淆的多个不同的参数化。

发明内容

因此，本发明的目的是提出一种方法，该方法使得能够可靠且方便地进行分析传感器的传感器特定参数化。

根据本发明，该目的通过用于校正分析传感器的测量数据的方法来实现。

根据本发明的用于校正分析传感器的测量数据的方法包括以下步骤：

-提供具有第一传感器单元、数据存储器和计算单元的分析传感器，

其中，数据存储器具有传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据，这些参数数据表示分析传感器的预定应用领域和/或测量特性，

-通过第一传感器单元收集测量数据，

-通过计算单元从数据存储器中读取参数数据，

-通过计算单元借助于参数数据校正收集的测量数据，以便生成校正的测量数据。

收集测量数据的步骤自然也可以包括根据现有技术的从模拟到数字测量数据的转换。根据本发明的方法使得可以以方便和可靠的方式校正由分析传感器确定的测量数据。在分析传感器的数据存储器中提供的传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据使用户能够最小化手动输入，以便考虑到分析传感器的操作条件。因此避免了用户的输入错误，并且增加了分析传感器的使用便利性。