[发明专利]一种中分辨率叶面积指数产品的校正方法及装置

权利要求书

1.一种中分辨率叶面积指数产品的校正方法，其特征在于，包括：

获取中分辨率叶面积指数产品；所述中分辨率叶面积指数产品包括多个像元的叶面积指数；

分别计算所述中分辨率叶面积指数产品中每个像元的叶面积指数的校正因子；其中，任一像元的叶面积指数的校正因子

其中，LAI_p表示以该像元为单位反演得到的叶面积指数；LAI_T表示该像元的真实叶面积指数，所述真实叶面积指数以该像元包括的亚像元为单位，通过计算该像元包含的亚像元的叶面积指数的平均值计算得到；n表示该像元中亚像元的数量；P(θ)表示该像元的孔隙率，P_i(θ)表示该像元中第i个亚像元的孔隙率；k_i表示该像元中第i个亚像元的地表覆盖类型下的聚集指数占该像元的地表覆盖类型下的聚集指数的比例；

分别计算所述中分辨率叶面积指数产品中每个像元的叶面积指数与对应的校正因子的比值，得到校正后的中分辨率叶面积指数产品。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，计算所述中分辨率叶面积指数产品中任一像元的叶面积指数的校正因子，包括：

获取高分辨率地表分类数据、高分辨率光谱反射率数据、中分辨率地表分类数据、中分辨率地表覆盖度数据，以及双向反射分布函数模型参数数据；

依据所述中分辨率地表覆盖度数据和所述高分辨率光谱反射率数据，分别计算该像元中各个亚像元的孔隙率；

依据所述双向反射分布函数模型参数数据，计算该像元的各向异性平整指数；

根据该像元的各向异性平整指数和事先构建的像元各向异性平整指数、地表覆盖类型，以及聚集指数间的对应关系，计算该像元的地表覆盖类型下的聚集指数和该像元中每个亚像元的地表覆盖类型下的聚集指数；其中，该像元的地表覆盖类型由所述中分辨率地表分类数据确定；该像元中任一亚像元的地表覆盖类型由所述高分辨率地表分类数据确定；

依据该像元中各个亚像元的孔隙率、该像元的地表覆盖类型下的聚集指数和该像元下每个亚像元的地表覆盖类型下的聚集指数，确定该像元的叶面积指数的校正因子。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，依据该像元中各个亚像元的孔隙率、该像元的地表覆盖类型下的聚集指数和该像元中每个亚像元的地表覆盖类型下的聚集指数，确定该像元的叶面积指数的校正因子，包括：

依据该像元的地表覆盖类型下的聚集指数和该像元中每个亚像元的地表覆盖类型下的聚集指数，计算该像元中每个亚像元的比值；对于任一亚像元的比值为该亚像元的地表覆盖类型下的聚集指数与该像元的地表覆盖类型下的聚集指数的比值；

依据该像元中各个亚像元的孔隙率和该像元中每个亚像元的比值，确定该像元的叶面积指数的校正因子。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述依据所述中分辨率地表覆盖度数据和所述高分辨率光谱反射率数据，分别计算该像元中各个亚像元的孔隙率，包括：

依据所述中分辨率地表覆盖度数据和所述高分辨率光谱反射率数据，计算该像元中各个亚像元的植被覆盖度；

针对该像元中任一亚像元，依据该像元中该亚像元的植被覆盖度，计算该亚像元的孔隙率。