[发明专利]一种晶片测试电路及应用

说明书

本发明提供了一种晶片测试电路及应用。其中，一种晶片测试电路，包括USB连接电路、主控芯片电路、闪存接口电路、供电及基准电路、电源管理电路以及电流检测与自恢复电路；本发明还提供了一种应用，包括上述的晶片测试电路，该晶片测试电路用于制作晶片测试卡。本发明能克服浪涌电流造成的测试异常及损坏，当连接短路的晶元后，保护电路会在1ms以内启动，当短路解除以后，会自动恢复输出。

技术领域

本发明涉及一种Flash晶元测试技术领域，尤其是一种晶片测试电路及应用。

背景技术

市场现有晶片测试卡：由探针,载板,排插三部份构成,主控板通过排插和探针与被测晶元连接.达到测试的目的，其缺陷包括：

a)探针的针尖易被大电流烧毁，由于晶圆pad极小,要求针尖细而长.与晶元的解除面小，因此有大电流经过时。针尖容易被烧毁和产生氧化物，导致误测或寿命缩短，严重时导致损坏或测试不稳定。

b)短路时电脑卡死，当晶圆短路或微短时，会导致电脑USB保护或电脑卡死。

c)由于晶片测试卡与主控板分离(晶片测试卡面积大)，走线很长，信号衰减.导致测试不稳定。

d)目前市场上也有主控板，在USB 5V(正极)串入可恢复式保险(PTC)，当负载(被测晶片和主控芯片)出现大电流，电流经过可恢复式保险，保险加热自身至一定温度后，保险阻值增大，与负载串联分压，从而降低负载电压，达到降低负载电流的目的。缺陷1：响应速度慢（保险需加热自身，增大阻值）,此时电脑端已经检测到浪涌电流而保护USB输出，长时间的大电流会烧毁探针的针尖。缺陷2：过流保护时，保险电阻与负载(主控芯片)串联分压，此时的负载(主控芯片)电压是降低并不是切断，负载电压并且会根据负载的变化而变化，会使主控工作在不稳定的电压范围，导致与电脑的USB数据链接出现异常,电脑端提示“此USB设备异常”。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的是提供一种晶片测试电路及应用。

本发明采用的技术方案是：

一种晶片测试电路，包括

USB连接电路、主控芯片电路、闪存接口电路、供电及基准电路、电源管理电路以及电流检测与自恢复电路；

所述USB连接电路通过USB线用于将电脑与晶片测试产品相连；

所述主控芯片电路与USB连接电路连接，用于对测试Flash晶元进行测试；

所述闪存接口电路与主控芯片电路连接，包括用于焊接探针的焊盘、滤波电容单元、电阻取样单元以及比较电路，

所述滤波电容单元用于滤除电源波动，得到稳定的电源，经电阻取样单元将Flash的电流转换为电压送至比较电路进行比较，

所述供电及基准电路与USB连接电路、主控芯片电路以及电流检测与自恢复电路连接，用于对USB连接电路、主控芯片电路以及电流检测与自恢复电路供电，

所述电流检测与自恢复电路与比较电路连接，所述电流检测与自恢复电路用于电路保护及电路恢复。

进一步地，所述插接件JP2为焊盘，插接件JP2上设置的插接件引脚与设置在主控芯片电路中的主控芯片U1上设置的主控芯片引脚对应连接。

进一步地，所述供电及基准电路包括第一供电控制单元、第二供电控制单元、第三供电控制单元以及第四供电控制单元，

所述第一供电控制单元，用于电源开关控制，大电流保护控制；

所述第二供电控制单元，将受第一供电控制单元控制的5V电压降至3.3V，对测试Flash晶元供电；