[发明专利]一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法及装置有效
申请号: | 202010266641.7 | 申请日: | 2020-04-07 |
公开(公告)号: | CN111595438B | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 闫淑娟;赵永亮 | 申请(专利权)人: | 昆山丘钛微电子科技股份有限公司 |
主分类号: | G01J1/10 | 分类号: | G01J1/10 |
代理公司: | 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 | 代理人: | 刘杰 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 模组 awb 光源 稳定性 检测 方法 装置 | ||
1.一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法,其特征在于,包括:
获取典型模组;其中,包括:在标准的烧录光源下对N个摄像头模组曝光,获得N组AWB四通道的值;其中,N为正整数,所述N组AWB四通道的值与所述N个摄像头模组一一对应;获取所述N组AWB四通道的值各自对应的R/G值和B/G值;基于每个所述R/G值和所述B/G值,以及N个所述R/G值的平均值和所述B/G值的平均值;基于所述R/G值、所述B/G值、N个所述R/G值的平均值和N个所述B/G值的平均值,获得N个数据点和1个均值点组成的散点图;其中,一个所述R/G值和对应的一个所述B/G值组成一个所述数据点,N个所述R/G值的平均值和N个所述B/G值的平均值组成所述均值点;基于所述N个数据点中,每个数据点与所述均值点的距离,从N个所述摄像头模组中确定所述典型模组;
将典型模组在被测试的烧录光源下曝光,获得AWB四通道的测试值;
基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值,并获取所述测试值相对于所述标准值的误差量;
判断所述误差量是否小于预设的误差阈值;
若是,则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求;若否,则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值之前,还包括:
将所述典型模组在标准的烧录光源下曝光,获得AWB四通道的标准值;
将所述典型模组的所述标准值、标识信息以及机种名关联,并存储到所述预设的数据库中。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述误差量为所述测试值与所述标准值的差异比例。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述若是,则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求之后,还包括:
每隔预设时长对所述被测试的烧录光源的稳定性进行检测;其中,所述预设时长小于等于12小时。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设的误差阈值的范围为小于等于5%。
6.一种模组AWB的烧录光源稳定性检测装置,其特征在于,包括:
检测曝光模块,用于将典型模组在被测试的烧录光源下曝光,获得AWB四通道的测试值;还用于获取典型模组;其中,获取典型模组包括:在标准的烧录光源下对N个摄像头模组曝光,获得N组AWB四通道的值;其中,N为正整数,所述N组AWB四通道的值与所述N个摄像头模组一一对应;获取所述N组AWB四通道的值各自对应的R/G值和B/G值;基于每个所述R/G值和所述B/G值,以及N个所述R/G值的平均值和所述B/G值的平均值;基于所述R/G值、所述B/G值、N个所述R/G值的平均值和N个所述B/G值的平均值,获得N个数据点和1个均值点组成的散点图;其中,一个所述R/G值和对应的一个所述B/G值组成一个所述数据点,N个所述R/G值的平均值和N个所述B/G值的平均值组成所述均值点;基于所述N个数据点中,每个数据点与所述均值点的距离,从N个所述摄像头模组中确定所述典型模组;
误差计算模块,用于基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值,并获取所述测试值相对于所述标准值的误差量;
误差判断模块,用于判断所述误差量是否小于预设的误差阈值;
稳定性确定模块,用于若是,则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求;若否,则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,还包括:标准值获取模块,用于在所述基于所述测试值在数据库中匹配对应的标准值之前,
将所述典型模组在标准的烧录光源下曝光,获得AWB四通道的标准值;将所述典型模组的所述标准值、标识信息以及机种名关联,并存储到所述预设的数据库中。
8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述误差量为所述测试值与所述标准值的差异比例。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一项所述方法的步骤。
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