[发明专利]一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010266641.7 申请日: 2020-04-07
公开(公告)号: CN111595438B 公开(公告)日: 2023-03-31
发明(设计)人: 闫淑娟;赵永亮 申请(专利权)人: 昆山丘钛微电子科技股份有限公司
主分类号: G01J1/10 分类号: G01J1/10
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 代理人: 刘杰
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 模组 awb 光源 稳定性 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种模组AWB的烧录光源稳定性检测方法,其特征在于,包括:

获取典型模组;其中,包括:在标准的烧录光源下对N个摄像头模组曝光,获得N组AWB四通道的值;其中,N为正整数,所述N组AWB四通道的值与所述N个摄像头模组一一对应;获取所述N组AWB四通道的值各自对应的R/G值和B/G值;基于每个所述R/G值和所述B/G值,以及N个所述R/G值的平均值和所述B/G值的平均值;基于所述R/G值、所述B/G值、N个所述R/G值的平均值和N个所述B/G值的平均值,获得N个数据点和1个均值点组成的散点图;其中,一个所述R/G值和对应的一个所述B/G值组成一个所述数据点,N个所述R/G值的平均值和N个所述B/G值的平均值组成所述均值点;基于所述N个数据点中,每个数据点与所述均值点的距离,从N个所述摄像头模组中确定所述典型模组;

将典型模组在被测试的烧录光源下曝光,获得AWB四通道的测试值;

基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值,并获取所述测试值相对于所述标准值的误差量;

判断所述误差量是否小于预设的误差阈值;

若是,则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求;若否,则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值之前,还包括:

将所述典型模组在标准的烧录光源下曝光,获得AWB四通道的标准值;

将所述典型模组的所述标准值、标识信息以及机种名关联,并存储到所述预设的数据库中。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述误差量为所述测试值与所述标准值的差异比例。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述若是,则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求之后,还包括:

每隔预设时长对所述被测试的烧录光源的稳定性进行检测;其中,所述预设时长小于等于12小时。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设的误差阈值的范围为小于等于5%。

6.一种模组AWB的烧录光源稳定性检测装置,其特征在于,包括:

检测曝光模块,用于将典型模组在被测试的烧录光源下曝光,获得AWB四通道的测试值;还用于获取典型模组;其中,获取典型模组包括:在标准的烧录光源下对N个摄像头模组曝光,获得N组AWB四通道的值;其中,N为正整数,所述N组AWB四通道的值与所述N个摄像头模组一一对应;获取所述N组AWB四通道的值各自对应的R/G值和B/G值;基于每个所述R/G值和所述B/G值,以及N个所述R/G值的平均值和所述B/G值的平均值;基于所述R/G值、所述B/G值、N个所述R/G值的平均值和N个所述B/G值的平均值,获得N个数据点和1个均值点组成的散点图;其中,一个所述R/G值和对应的一个所述B/G值组成一个所述数据点,N个所述R/G值的平均值和N个所述B/G值的平均值组成所述均值点;基于所述N个数据点中,每个数据点与所述均值点的距离,从N个所述摄像头模组中确定所述典型模组;

误差计算模块,用于基于所述测试值在预设的数据库中匹配对应的标准值,并获取所述测试值相对于所述标准值的误差量;

误差判断模块,用于判断所述误差量是否小于预设的误差阈值;

稳定性确定模块,用于若是,则确定所述被测试的烧录光源符合生产要求;若否,则确定所述被测试的烧录光源不符合生产要求。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,还包括:标准值获取模块,用于在所述基于所述测试值在数据库中匹配对应的标准值之前,

将所述典型模组在标准的烧录光源下曝光,获得AWB四通道的标准值;将所述典型模组的所述标准值、标识信息以及机种名关联,并存储到所述预设的数据库中。

8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述误差量为所述测试值与所述标准值的差异比例。

9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一项所述方法的步骤。

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