[发明专利]光模数转换系统中解复用模块性能的测试方法

权利要求书

1.一种光模数转换系统中解复用模块性能的测试方法，包括光模数转换系统（1）和信号控制与处理模块（2），所述的光模数转换系统（1）包括光采样时钟源（1-1）、光子采样门（1-2）、被采样信号源（1-3）、N路解复用模块（1-4）、光电探测器阵列（1-5）、电子模数转换器阵列（1-6），所述的光电探测器阵列（1-5）由N个PD单元（1-5-1）并列构成，所述的电子模数转换器阵列（1-6）由N个电子模数转换器（1-6-1）组成；所述的信号控制与处理模块（2）的输出端与所述的光模数转换系统（1）中被采样信号源（1-3）的输入端相连，所述的光模数转换系统（1）中电子模数转换器阵列（1-6）的输出端与信号控制与处理模块（2）的输入端相连，所述的光采样时钟源（1-1）的输出端与所述的光子采样门（1-2）的第一输入端相连，所述的被采样信号源（1-3）的输出端与所述的光子采样门（1-2）的第二输入端相连，所述的光子采样门（1-2）的输出端与所述的N路解复用模块（1-4）的输入端相连，所述的N路解复用模块（1-4）的N个输出端分别与所述的光电探测器阵列（1-5）中N个PD单元（1-5-1）的输入端相连，所述的光电探测器阵列（1-5）中N个PD单元（1-5-1）的输出端分别与所述的电子模数转换器阵列（1-6）中N个电子模数转换器（1-6-1）的输入端相连；其特征在于，所述的光模数转换系统（1）中N路解复用模块（1-4）性能的测试方法包括如下步骤：

1）通过信号控制与处理模块（2）控制所述的被采样信号源（1-3）产生不同频率的电模拟信号，该电模拟信号经由光模数转换系统（1）转换为电数字信号并输入所述的信号控制与处理模块（2），该电数字信号经所述的信号控制与处理模块（2）进行傅里叶变换得到电数字信号的功率谱，在功率谱上可以得到每个输入频率下的电模拟信号经过光模数转换系统（1）转换后输出的电数字信号功率值；

2）所述的信号控制与处理模块（2）根据已知的光模数转换系统（1）的输入电模拟信号的频率值和处理计算得到的输出电数字信号的功率值，将输入电模拟信号的频率值作为X轴，输出电数字信号的功率值作为Y轴，得到所述的光模数转换系统（1）的通道响应曲线；

3）将所述的通道响应曲线分为不同奈奎斯特区间，奈奎斯特区间的划分依据为：(k-1)*fs/2N~ k*fs/2N，其中，fs为光模数转换系统（1）的采样率，N为N路解复用模块（1-4）的总路数，k为正整数，取值范围是1~2*N，k的取值不同则代表不同的奈奎斯特区间；

4）计算不同奈奎斯特区间信号的功率值的极差，极差的计算方法为：计算通道响应曲线中第k个奈奎斯特区间中最后一个频率值对应的信号功率值与第k+1个奈奎斯特区间中第一个频率值对应的信号功率值的绝对差值；计算所得的极差可以反映出该光模数转换系统（1）中N路解复用模块（1-4）的性能，极差越小，则N路解复用模块（1-4）的性能越好，当极差为零时，N路解复用模块（1-4）的性能达到最优的理想情况。

2.根据权利要求1所述的光模数转换系统中解复用模块性能的测试方法，其特征在于，所述的信号控制与处理模块（2）可采用电脑、单片机、或信息处理板卡。

3.根据权利要求1所述的光模数转换系统中解复用模块性能的测试方法，其特征在于，所述的光采样时钟源（1-1）由被动锁模激光器、主动锁模激光器或调制频率梳实现。

4.根据权利要求1所述的光模数转换系统中解复用模块性能的测试方法，其特征在于，所述的光子采样门（1-2）采用铌酸锂电光调制器、聚合物电光调制器、硅基集成电光调制器、声光调制器或空间光调制器。

5.根据权利要求1所述的光模数转换系统中解复用模块性能的测试方法，其特征在于，所述的被采样信号源（1-3）为压控振荡器、频综源、模拟信号发生器或任意波形产生器。

6.根据权利要求1所述的光模数转换系统中解复用模块性能的测试方法，其特征在于，所述的N路解复用模块（1-4）为波分复用器、模分复用器、光开关阵列或双输出调制器阵列。