[发明专利]用于检测无刷励磁机的电气故障的方法和系统及存储介质有效

专利信息
申请号: 202010268147.4 申请日: 2020-04-08
公开(公告)号: CN111308345B 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 孙宇光;杜威;桂林;赵广睿 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01R31/34 分类号: G01R31/34
代理公司: 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 代理人: 徐丁峰;戴亚南
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 检测 励磁机 电气 故障 方法 系统 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种用于检测无刷励磁机的电气故障的方法,包括:

在所述无刷励磁机的均匀分布的至少两个磁极中的每个磁极上分别绕制子探测线圈,其中,所述至少两个磁极不包含在所述无刷励磁机的电机圆周上的全部磁极中的实际相邻的两个磁极;

将所绕制的至少两个子探测线圈串联,以获得串联后的磁极探测线圈,其中,所述磁极探测线圈的端口保持开路状态;

检测所述磁极探测线圈的端口电压;

基于所述端口电压的谐波分量确定所述无刷励磁机是否存在电气故障;

其中,所述至少两个子探测线圈采用第一种布置方式或者第二种布置方式绕制并串联,

其中,在采用所述第一种布置方式的情况下,所述在所述无刷励磁机的均匀分布的至少两个磁极中的每个磁极上分别绕制子探测线圈包括:

在所述无刷励磁机的相距P极的两个磁极中的每个磁极上分别绕制子探测线圈,其中,P为所述无刷励磁机的极对数;

所述将所绕制的至少两个子探测线圈串联包括:

将所绕制的所述至少两个子探测线圈反向串联;

其中,在采用所述第一种布置方式的情况下,所述基于所述端口电压的谐波分量确定所述无刷励磁机是否存在电气故障包括:

如果所述端口电压包含除2M/P的整数倍谐波以外的M/P的倍数次谐波,则确定所述无刷励磁机存在励磁绕组匝间短路故障,其中,M为所述无刷励磁机的相数;

如果所述端口电压包含2/P的倍数次谐波,则确定所述无刷励磁机存在电枢绕组内部短路故障和/或电枢断线故障;

如果所述端口电压包含1/P的倍数次谐波,则确定所述无刷励磁机存在旋转整流器二极管开路故障;

其中,在采用所述第二种布置方式的情况下,所述在所述无刷励磁机的均匀分布的至少两个磁极中的每个磁极上分别绕制子探测线圈包括:

在所述无刷励磁机的P个磁极中的每个磁极上分别绕制子探测线圈,其中,所述P个磁极两两相距两个极,P为所述无刷励磁机的极对数;

所述将所绕制的至少两个子探测线圈串联包括:

将所绕制的所述至少两个子探测线圈正向串联;

其中,在采用所述第二种布置方式的情况下,所述基于所述端口电压的谐波分量确定所述无刷励磁机是否存在电气故障包括:

如果所述端口电压包含M/P的倍数次谐波,则确定所述无刷励磁机存在励磁绕组匝间短路故障,其中,M为所述无刷励磁机的相数;

如果所述端口电压包含除M的整数倍谐波以外的整数次谐波,则确定所述无刷励磁机存在电枢绕组内部短路故障、电枢断线故障和旋转整流器二极管开路故障中的一种或多种。

2.如权利要求1所述的方法,其中,所述至少两个子探测线圈中的每个子探测线圈的匝数为所述无刷励磁机的励磁绕组每极串联匝数的1/10。

3.如权利要求1或2所述的方法,其中,对于所述至少两个子探测线圈中的每个子探测线圈,该子探测线圈围绕对应磁极的纵轴中的第一线段绕制,该子探测线圈的对应磁极上的励磁绕组围绕对应磁极的纵轴中的第二线段绕制,所述第一线段与所述第二线段不重叠。

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