[发明专利]一种多光谱辐射测温方法及系统

权利要求书

1.一种多光谱辐射测温方法，其特征在于，包括：

利用探测器装置对被测目标多个等温区域进行探测，得到测量温度，具体包括：

获取所述探测器装置中光谱探测器的响应函数和黑体光谱辐射强度；

利用所述光谱探测器的响应函数和所述黑体光谱辐射强度计算得到所述测量温度；

根据多光谱测温原理确定所述测量温度、所述被测目标的真实温度和所述被测目标的光谱发射率之间的关系；

利用所述测量温度、所述被测目标的真实温度和所述被测目标的光谱发射率之间的关系，确定全局优化函数，所述全局优化函数为：

上式中，F[T_j,ε(λ_i,T_j)]为所述真实温度和所述光谱发射率的隐函数；T_j表示所述被测目标第j个等温区域的真实温度，j表示所述等温区域的序号，j＝1，2，3，…，m，m表示所述等温区域的总数量；ε(λ_i,T_j)表示在真实温度为T_j和测量光谱为λ_i时所述被测目标的光谱发射率；i表示所述光谱探测器的序号，i＝1，2，3，…，n，n表示所述光谱探测器的总数量；f(T_mλi,j)为所述测量温度的隐函数；T_mλi,j表示所述光谱探测器的测量温度；f(T_j)表示所述真实温度的隐函数；λ_i表示第i个所述光谱探测器的测量光谱；

初始化所述真实温度和所述光谱发射率，得到所述真实温度的温度初始值和所述光谱发射率的发射率初始值；

通过所述温度初始值和所述发射率初始值对所述全局优化函数进行迭代，得到所述被测目标的等温区域的最优真实温度和最优光谱发射率。

2.根据权利要求1所述的多光谱辐射测温方法，其特征在于，所述通过所述温度初始值和所述发射率初始值对所述全局优化函数进行迭代，得到所述被测目标的等温区域的最优真实温度和最优光谱发射率，具体包括：

获取所述全局优化函数的约束条件；

利用所述约束条件、所述温度初始值和所述发射率初始值对所述全局优化函数进行迭代，得到所述真实温度和所述光谱发射率的最优解；

将所述真实温度的最优解确定为所述被测目标等温区域的最优真实温度，将所述光谱发射率的最优解确定为所述被测目标等温区域的最优光谱发射率。