[发明专利]亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明涉及一种亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取包括多个待测显示灯的待测面板图像，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在待测面板图像中确定相应的待测像素区域，将待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与预设模板图像进行匹配，计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和预设模板图像之间的相关系数，若相关系数小于预设相关度阈值，则确定亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。本发明实施例将待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与预设模板图像进行匹配，能够减少检测时间，提高检测效率，而且最终得到的仅是某个亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷，准确度较高。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

为了便于用户了解空调使用情况，一般会在空调面板下方设置LED灯，通过控制LED灯的亮灭使LED灯透过面板形成指定的亮灯图案，为了保证新设计的空调面板显示灯的亮灯质量，需要对亮灯区域进行显示完整或缺失的缺陷检测。现有技术中，该检测工作是通过人的眼睛去监视亮灯的情况。而随着检测时间的积累、检测点的增多、检测对象各异等因素，人的视觉疲劳会导致漏检或误检。为此，需要采用将标准模板图和整张面板的待测图进行匹配的检测方法，这样整张面板的待测图中的每个像素点位置都要匹配，会消耗大量时间；而且由于整张面板下一般设置多个LED灯，最终得到的检测结果是整个面板的待测图与标准模板图之间的相似度，一次性匹配难以辨别哪个有缺陷，会造成部分有缺陷的总体相似度也较高，检测效果很差。

发明内容

为了解决现有技术中存在的将整张面板的待测图与标准模板图匹配导致消耗大量时间及检测效果差的技术问题，本发明提供了一种亮灯缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。

第一方面，本发明提供了一种亮灯缺陷检测方法，包括：

获取包括多个待测显示灯的待测面板图像；

按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域；

将所述待测像素区域内不同的亮灯区域图像分别与所述预设模板图像进行匹配；

计算匹配到的匹配度最高的亮灯区域图像和所述预设模板图像之间的相关系数；

若所述相关系数小于预设相关度阈值，则确定所述亮灯区域图像中的待测显示灯存在亮灯缺陷。

可选地，按照预设标准面板图像中预设模板图像的位置信息，在所述待测面板图像中确定相应的待测像素区域的步骤，包括：

获取所述预设模板图像的参考坐标点在所述预设标准面板图像中的像素坐标和所述待测面板放置位置的最大偏移量；

根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息；

将所述待测面板图像中与所述待测区域信息对应的区域确定为待测像素区域。

可选地，所述参考坐标点包括：位于同一对角线上的第一对角点和第二对角点，根据所述参考坐标点的像素坐标和所述最大偏移量计算所述待测像素区域在所述待测面板图像中的待测区域信息的步骤，包括：

计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标；

计算所述第二对角点的像素坐标与所述最大偏移量的和，得到所述待测像素区域的第二待测点的像素坐标。

可选地，计算所述第一对角点的像素坐标与所述最大偏移量的差，得到所述待测像素区域的第一待测点的像素坐标的步骤，包括：