[发明专利]临近检测方法及临近检测键盘在审
申请号: | 202010272919.1 | 申请日: | 2020-04-09 |
公开(公告)号: | CN113076008A | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 张怀祖;冯古雄;张嘉显;林文祥 | 申请(专利权)人: | 美商矽成积体电路股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/02 | 分类号: | G06F3/02;H03K17/955 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 聂慧荃;闫华 |
地址: | 美国加利福尼亚州*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 临近 检测 方法 键盘 | ||
1.一种临近检测方法,其特征在于,用以检测一使用者是否临近一临近检测键盘,该临近检测键盘包含多个电极及至少一接地元件,该至少一接地元件与所述多个电极对应设置,该临近检测方法包含:
一等效电容检测步骤,检测各该电极的一等效电容,其中各该电极与该使用者产生一临近电容,各该电极与对应的该接地元件产生一寄生电容,各该电极的该等效电容是依据对应的该临近电容及对应的该寄生电容而定义;以及
一临近事件判定步骤,比较所述多个电极中至少一者的该等效电容与对应的一电容阈值,以判定是否存在一临近事件,其中所述多个电极分别对应预先设定的所述电容阈值。
2.如权利要求1所述的临近检测方法,其特征在于,各该电极为环形,该临近检测键盘还包含多个按键及一净空外壳部,该净空外壳部为非导电材质制成,且所述多个按键中任一者不设置于该净空外壳部,所述多个电极对应设置于该净空外壳部之内;
其中,在该等效电容检测步骤中,各该电极的该等效电容为对应的该临近电容加上对应的该寄生电容。
3.如权利要求2所述的临近检测方法,其特征在于,在该等效电容检测步骤中,所述多个电极依据预先设定的一手势事件排列并分别对应多个编号,所述多个编号为连续整数,该临近电容、该寄生电容及该等效电容皆为时间相关并于多个检测时间点进行检测,所述多个检测时间点具有预先设定的一时间间隔。
4.如权利要求3所述的临近检测方法,其特征在于,还包含:
一电极状态值判定步骤,判定所述多个电极中是否存在至少一电极于一该检测时间点处于一第一状态值,其中各该电极于各该检测时间点处于一状态值,该状态值为该第一状态值或一第二状态值,当所述多个电极中一者的该等效电容大于对应的该电容阈值则判定处于该第一状态值,当所述多个电极中一者的该等效电容小于或等于对应的该电容阈值则判定处于该第二状态值;
其中,在该临近事件判定步骤中,当所述多个电极中存在该至少一电极于一该检测时间点处于该第一状态值时,选取该至少一电极中对应一最大编号的一该电极,该最大编号为该至少一电极对应的编号中最大者,判定对应该最大编号的往前一编号的一该电极或是往后一编号的一该电极是否于往前一检测时间点处于该第一状态值。
5.如权利要求4所述的临近检测方法,其特征在于,还包含:
一临近回应驱动步骤,当对应该最大编号的往前一编号的一该电极以及往后一编号的一该电极于往前一检测时间点皆不处于该第一状态值时,判定为该临近事件并驱动该临近检测键盘的一回应单元;
其中,该回应单元包含一输出端、一发光元件、一声响元件及一震动元件中至少一者。
6.如权利要求4所述的临近检测方法,其特征在于,还包含:
一手势事件辨认步骤,依据一电极状态值时间序列辨认为该手势事件,其中当对应该最大编号的往前一编号的一该电极于往前一检测时间点处于该第一状态值时,该电极状态值时间序列为对应该最大编号的往前多个连续编号的所述多个电极分别于往前多个连续检测时间点的所述状态值,当对应该最大编号的往后一编号的一该电极于往前一检测时间点处于该第一状态值时,该电极状态值时间序列为对应该最大编号的往后多个连续编号的所述多个电极分别于往前多个连续检测时间点的所述状态值。
7.如权利要求6所述的临近检测方法,其特征在于,还包含:
一手势回应驱动步骤,依据该手势事件驱动该临近检测键盘的一回应单元;
其中,该回应单元包含一输出端、一发光元件、一声响元件及一震动元件中至少一者。
8.如权利要求1所述的临近检测方法,其特征在于,所述多个电极的数量介于两个至三十个之间,各该电极的面积介于1cm2至500cm2之间。
9.如权利要求1所述的临近检测方法,其特征在于,各该电极对应的该电容阈值介于1pF至1000pF之间,该临近事件对应该使用者与所述多个电极中至少一者的距离介于0.5cm至30cm之间。
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