[发明专利]一种高低压耦合机理的测试系统及测试方法有效
申请号: | 202010273116.8 | 申请日: | 2020-04-09 |
公开(公告)号: | CN111308258B | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 郁召锋;涂文特;姜峻岭;孙玮瞳;周艳新;贾振宇;王青松 | 申请(专利权)人: | 上海捷氢科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/36;G01R31/378;G01R1/18 |
代理公司: | 北京信远达知识产权代理有限公司 11304 | 代理人: | 赵兴华 |
地址: | 201804 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 低压 耦合 机理 测试 系统 方法 | ||
1.一种高低压耦合机理的测试系统,其特征在于,用于测试受试设备的高低压耦合系数,所述受试设备包括高压端口、输出端口和低压及通信端口,所述高低压耦合机理的测试系统包括:高压直流电源、负载箱、低压直流电源、接收设备、第一高压隔离设备、第二高压隔离设备和低压隔离设备;其中,
所述高压直流电源通过所述第一高压隔离设备与所述高压端口连接,所述低压直流电源通过所述低压隔离设备与所述低压及通讯端口连接,所述负载箱通过所述第二高压隔离设备与所述输出端口连接;所述接收设备通过所述低压隔离设备与所述低压及通讯端口连接;
所述高压直流电源,用于为所述受试设备提供高压驱动电能;
所述负载箱,用于为所述受试设备提供负载;
所述低压直流电源,用于为所述受试设备提供低压电能;
所述接收设备,用于测试所述受试设备的干扰曲线;
所述接收设备还用于在所述受试设备的高压端口和低压及通讯端口均关闭时,测试底噪干扰曲线。
2.根据权利要求1所述的高低压耦合机理的测试系统,其特征在于,所述接收设备测试所述受试设备的干扰曲线具体用于,在所述受试设备的低压及通讯端口打开,且所述高压端口关闭时,测试所述受试设备的低压干扰曲线;
或
在所述受试设备的低压及通讯端口和高压端口均打开时,测试所述受试设备在不同运行功率下的干扰曲线。
3.根据权利要求1所述的高低压耦合机理的测试系统,其特征在于,还包括:上位机;
所述上位机用于控制所述受试设备、高压直流电源、低压直流电源、负载箱和接收设备的工作状态,和用于监控所述受试设备的各项参数是否正常。
4.根据权利要求1所述的高低压耦合机理的测试系统,其特征在于,所述第一高压隔离设备为高压线路阻抗稳定网络;
所述第二高压隔离设备高压线路阻抗稳定网络;
所述低压隔离设备为低压线路阻抗稳定网络。
5.一种高低压耦合机理的测试方法,其特征在于,基于权利要求1-4任一项所述的高低压耦合机理的测试系统实现,所述高低压耦合机理的测试方法用于测试受试设备的高低压耦合系数,所述受试设备包括高压端口、输出端口和低压及通信端口,所述高低压耦合机理的测试方法包括:
利用所述高低压耦合机理的测试系统的高压直流电源为所述受试设备提供高压驱动电能;
利用所述高低压耦合机理的测试系统的负载箱为所述受试设备提供负载;
利用所述高低压耦合机理的测试系统的低压直流电源为所述受试设备提供低压电能;
利用所述高低压耦合机理的测试系统的接收设备测试所述受试设备的干扰曲线。
6.根据权利要求5所述的高低压耦合机理的测试方法,其特征在于,所述利用所述高低压耦合机理的测试系统的接收设备测试所述受试设备的干扰曲线之前还包括:
利用所述接收设备在所述受试设备的高压端口和低压及通讯端口均关闭时,测试底噪干扰曲线。
7.根据权利要求6所述的高低压耦合机理的测试方法,其特征在于,所述利用所述高低压耦合机理的测试系统的接收设备测试所述受试设备的干扰曲线包括:
在所述受试设备的低压及通讯端口打开,且所述高压端口关闭时,测试所述受试设备的低压干扰曲线;
在所述受试设备的低压及通讯端口和高压端口均打开时,测试所述受试设备在不同运行功率下的干扰曲线。
8.根据权利要求7所述的高低压耦合机理的测试方法,其特征在于,所述在所述受试设备的低压及通讯端口和高压端口均打开时,测试所述受试设备在不同运行功率下的干扰曲线之后还包括:
根据所述底噪干扰曲线、所述低压干扰曲线和所述受试设备在不同运行功率下的干扰曲线,计算所述受试设备在不同运行功率下的高低压耦合系数。
9.根据权利要求8所述的高低压耦合机理的测试方法,其特征在于,所述根据所述底噪干扰曲线、所述低压干扰曲线和所述受试设备在不同运行功率下的干扰曲线,计算所述受试设备在不同运行功率下的高低压耦合系数包括:
将所述底噪干扰曲线、所述低压干扰曲线和所述受试设备在不同运行功率下的干扰曲线代入第一预设公式中,以计算获得所述受试设备在不同运行功率下的高低压耦合系数;
所述第一预设公式包括:其中,α表示所述受试设备在预设运行功率下的高低压耦合系数,L2表示所述低压干扰曲线,L3表示所述受试设备在预设运行功率下的干扰曲线,L1表示所述底噪干扰曲线。
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