[发明专利]光脉冲信号处理系统

权利要求书

1.一种光脉冲信号处理系统，其特征在于，包括：用于产生具有第一重复频率的参考光脉冲簇的参考信号光源、合束镜，以及待测信号光源、柱面透镜和长镜对；其中，

所述待测信号光源，用于产生待测信号光脉冲，并传输至所述柱面透镜；

所述柱面透镜，用于将所述待测信号光脉冲转化为具有空间角度啁啾的待测信号光脉冲，以使所述具有空间角度啁啾的待测信号光脉冲以不同角度入射至所述长镜对；

所述长镜对，用于将以不同角度入射的待测信号光脉冲，通过镜间反射的方式对所述待测信号光脉冲进行延迟处理，输出具有第二重复频率的待测信号光脉冲簇至所述合束镜；其中，所述第二重复频率与所述第一重复频率的频率差小于设定的频率差阈值；

所述合束镜，用于将所述待测信号光脉冲簇与所述参考信号光源产生的所述参考光脉冲簇进行合束，用于光信号分析装置对合束后的光脉冲簇进行分析。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：设置于所述待测信号光源和所述柱面透镜之间的单向透视镜；

所述单向透视镜，用于将所述待测信号光源产生的待测信号光脉冲透射至所述柱面透镜。

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，

所述长镜对，进一步用于将所述待测信号光脉冲簇经所述柱面透镜传输至所述单向透视镜，以使所述单向透视镜将所述待测信号光脉冲簇反射至所述合束镜。

4.根据权利要求1至3任一项所述的系统，其特征在于，所述长镜对，包括至少两个镜面相对设置的平面反射镜。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光信号分析装置，包括：非线性晶体；

所述非线性晶体，用于将所述合束镜得到的所述合束后的光脉冲簇转化为和频光，用于所述光信号分析装置进行分析。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述光信号分析装置，还包括：时域拉伸器件；

所述时域拉伸器件，用于将所述非线性晶体得到的所述和频光进行时频变换处理，用于所述光信号分析装置对时频变换处理后的和频光信号进行分析。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述光信号分析装置，还包括：设于所述合束镜与所述非线性晶体之间的第一透镜；

所述第一透镜，用于将所述合束镜得到的所述合束后的光脉冲簇聚焦至所述非线性晶体。

8.根据权利要求6或7所述的系统，其特征在于，所述光信号分析装置，还包括：设于所述非线性晶体与所述时域拉伸器件之间的第二透镜；

所述第二透镜，用于将所述非线性晶体得到的所述和频光进行准直并耦合至所述时域拉伸器件。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述光信号分析装置，还包括：光电探测器；

所述光电探测器，用于探测所述时域拉伸器件输出的所述时频变换处理后的和频光信号，并转换为相应的电信号。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述光信号分析装置，还包括：采样器件；

所述采样器件，用于对所述光电探测器得到的电信号进行数据采集，获取扫描轨迹图，用于通过广义投影法获取所述待测信号光脉冲在时域和/或频域上强度和相位。