[发明专利]一种芯片加工用刻蚀设备在审

专利信息
申请号: 202010275343.4 申请日: 2020-04-09
公开(公告)号: CN111463164A 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 饶正盛 申请(专利权)人: 饶正盛
主分类号: H01L21/687 分类号: H01L21/687;H01L21/67
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201616 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 工用 刻蚀 设备
【说明书】:

发明公开了一种芯片加工用刻蚀设备,其结构包括底固箱、外固箱、上抵层、内控箱、控制面板,底固箱安装于外固箱底端,内控箱嵌入于外固箱内部,暴露出所需刻蚀的部位,其余部位由叠层所覆盖住,原本底端抵住物体上表面的顺贴面,让中部所抵触的部位有一个反扩的力,辅助整体的粘附力,能够在刻蚀的部位有所下移的同时,对其防护的部位侧面进行防护,通过抵块卡于主压板之间,上端的摆角支撑开主压板的承受力,主要承受外界的支点力,让其导头能够对其引向角进行往外扩,卡块将会辅助推开,能够在部位跟随刻蚀的高度下移时,将会通过上端的挤压力,将其挤出,下端有个反向的包裹力,在没有底端的释放力时,将会往回缩动。

技术领域

本发明属于芯片领域,更具体地说,尤其是涉及到一种芯片加工用刻蚀设备。

背景技术

要对芯片加工进行刻蚀,由于较小有时候还需要刻蚀出图案,所以主要选择用干法刻蚀,需要图案刻蚀时,将光刻胶置于所需的形状上,让其余部位进行刻蚀留下所需的部位。

基于上述本发明人发现,现有的芯片刻蚀装置主要存在以下几点不足,比如:

其覆盖有光刻胶进行刻蚀时,在密封的室内进行刻蚀发生反应完毕后,盖于光刻胶底部的周边,会有些受到影响轻微融合,掀开光刻胶的同时,较容易损坏本体。

因此需要提出一种芯片加工用刻蚀设备。

发明内容

为了解决上述技术其覆盖有光刻胶进行刻蚀时,在密封的室内进行刻蚀发生反应完毕后,盖于光刻胶底部的周边,会有些受到影响轻微融合,掀开光刻胶的同时,较容易损坏本体的问题。

本发明一种芯片加工用刻蚀设备的目的与功效,由以下具体技术手段所达成:

其结构包括底固箱、外固箱、上抵层、内控箱、控制面板。

所述底固箱安装于外固箱底端,所述内控箱嵌入于外固箱内部,所述上抵层设于内控箱内部,所述控制面板安装于外固箱外表面。

作为本发明的进一步改进,所述上抵层包括顺贴面、夹口、叠层,所述夹口嵌入于叠层内部,所述叠层外表面抵有顺贴面,所述顺贴面正视为梯形结构。

作为本发明的进一步改进,所述顺贴面包括托面、胶托角、匀球、隔层,所述胶托角贴合于托面内表面,所述匀球嵌入于隔层内部,所述隔层与托面相连接,所述托面为弧形结构,所述匀球呈球体结构,所述胶托角为橡胶材质。

作为本发明的进一步改进,所述托面包括中抵球、弧摆芯、后顶头,所述后顶头贴合于弧摆芯外表面,所述弧摆芯远离后顶头的一端与中抵球相连接,所述弧摆芯为弧形结构,所述后顶头一边为弧形另一端为尖角状。

作为本发明的进一步改进,所述中抵球包括外胶环、卡边头、膨芯,所述外胶环贴合于膨芯外表面,所述外胶环远离膨芯的一端与卡边头相连接,所述卡边头设有两个,所述外胶环为两头尖中间弧形结构,所述膨芯呈椭圆形结构。

作为本发明的进一步改进,所述夹口包括顺压边、主压板、摆角、抵块,所述顺压边与摆角为一体化结构,所述摆角与主压板相连接,所述抵块位于主压板之间,所述摆角设有两个且对称分布,所述顺压边设有两个。

作为本发明的进一步改进,所述顺压边包括后抵弧、引向角、导头,所述导头与后抵弧相连接,所述引向角抵在后抵弧外表面,所述导头设有两个且往下倾斜,所述后抵弧呈弧形结构。

作为本发明的进一步改进,所述后抵弧包括总弧角、弧胶条、卡块、固球,所述固球与弧胶条相连接,所述弧胶条嵌入于总弧角内部,所述卡块抵在总弧角内壁,所述固球为球体结构,所述弧胶条设有两个,所述卡块设有两个。

与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:

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