[发明专利]显示面板残影检测方法以及检测装置有效

专利信息
申请号: 202010276323.9 申请日: 2020-04-09
公开(公告)号: CN111341233B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 黄志娟;王志祥 申请(专利权)人: 昆山国显光电有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G06T7/00
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 娜拉
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 检测 方法 以及 装置
【说明书】:

发明公开了一种显示面板残影检测方法以及检测装置,显示面板残影检测方法包括:控制待测显示面板显示棋盘格画面,棋盘格画面包括矩阵排列的多个纯色子画面,相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶;在棋盘格画面显示第一预定时长后,控制待测显示面板显示预定灰阶的检测画面;控制参照显示面板显示标定画面,标定画面包括矩阵排列且相互交替的多个第一矩阵图片和多个第二矩阵图片,第一矩阵图片的灰阶与预定灰阶相同,第二矩阵图片的灰阶包括与预定灰阶相同的第三灰阶和与预定灰阶不同的第四灰阶;比对检测画面和标定画面,以得到待测显示面板的残影程度。本发明提供的显示面板残影检测方法能够提高对显示面板残影检测的准确性。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种显示面板残影检测方法以及检测装置。

背景技术

显示面板出货前需要对其进行各项指标的检测,其中,残影消失时间是评价显示面板质量的一项重要指标。残影是指显示面板显示一种画面一段时间后,当切换到另一画面时,先前的画面会有残留,经过一段时间后方可消失的现象。

如何准确有效地检测显示面板的残影程度,以客观的评价显示面板的质量成为目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供一种显示面板残影检测方法以及检测装置,能够提高对显示面板残影检测的准确性。

一方面,根据本发明实施例提供一种显示面板残影检测方法,包括:控制待测显示面板显示棋盘格画面,棋盘格画面包括矩阵排列的多个纯色子画面,每相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶;在棋盘格画面显示第一预定时长后,控制待测显示面板显示具有预定灰阶的检测画面,预定灰阶处于第一灰阶和第二灰阶之间;控制参照显示面板显示标定画面,标定画面包括矩阵排列的多个第一矩阵图片和多个第二矩阵图片,每个第一矩阵图片与每个第二矩阵图片相互交替设置,第一矩阵图片包括多个第一单元格,第一矩阵图片中第一单元格的数量与纯色子画面中对应的子像素的数量相同,第一矩阵图片的灰阶与预定灰阶相同,第二矩阵图片包括多个第二单元格,第二矩阵图片中第二单元格的数量与纯色子画面中对应的子像素的数量相同,第二矩阵图片的灰阶包括第三灰阶和第四灰阶,第三灰阶与预定灰阶相同,第四灰阶与预定灰阶不同,残影等级与第三灰阶的第二单元格数量和第四灰阶的第二单元格的数量的比例具有对应关系;比对检测画面和标定画面,以得到待测显示面板的残影程度。

根据本发明实施例的一个方面,控制参照显示面板显示标定画面之前,显示面板残影检测方法还包括:形成标定画面,包括:根据待测显示面板中纯色子画面中对应的子像素的数量以及预定灰阶形成第一矩阵图片;根据待测显示面板中纯色子画面中对应的子像素的数量、预定灰阶以及残影等级形成第二矩阵图片;将第一矩阵图片与第二矩阵图片相互交替并矩阵排列拼接形成标定画面。

根据本发明实施例的一个方面,第二矩阵图片包括多个矩阵子图片,矩阵子图片包括矩阵排列的多个第二单元格,根据待测显示面板中纯色子画面中对应的子像素的数量、预定灰阶以及残影等级形成第二矩阵图片包括:根据待测显示面板中纯色子画面中对应的子像素的数量、预定灰阶以及残影等级形成矩阵子图片,残影等级与矩阵子图片中第三灰阶的第二单元格数量和第四灰阶的第二单元格的数量比例具有对应关系;将多个矩阵子图片矩阵排列拼接形成第二矩阵图片。

根据本发明实施例的一个方面,残影等级递增时,矩阵子图片中第四灰阶的第二单元格的数量以等差数列递增。

根据本发明实施例的一个方面,矩阵子图片中包括偶数个第二单元格,残影等级包括第一等级,在第一等级,矩阵子图片中第四灰阶的第二单元格的数量与第三灰阶的第二单元格的数量相同,或者,矩阵子图片中包括奇数个第二单元格,残影等级包括第一等级,在第一等级,矩阵子图片中第四灰阶的第二单元格的数量与第三灰阶的第二单元格的数量的差值为1。

根据本发明实施例的一个方面,第三灰阶与第四灰阶之间的差值为一个灰阶,第一灰阶和第二灰阶中的一者为L0,另一者为L255,预定灰阶为L127。

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