[发明专利]一种条子内在质量的测试方法及其梳理装置有效
申请号: | 202010278864.5 | 申请日: | 2020-04-10 |
公开(公告)号: | CN111519285B | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
发明(设计)人: | 刘新金;苏旭中;谢春萍;徐伯俊;宋娟 | 申请(专利权)人: | 江南大学 |
主分类号: | D01G31/00 | 分类号: | D01G31/00;D01G15/26;D01G15/90 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 徐尔东 |
地址: | 214122 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 条子 内在 质量 测试 方法 及其 梳理 装置 | ||
1.一种条子内在质量的测试方法,其特征在于:包括梳理装置,所述梳理装置包括前梳理装置、后梳理装置、上密梳理齿、上疏梳理齿、下密梳理齿、下疏梳理齿,所述前梳理装置与所述后梳理装置结构一致,且对称设置于加持点前侧与后侧;
所述前梳理装置上梳理辊、下梳理辊、第一上升降装置、第一下升降装置、第二上升降装置、第二下升降装置、上伸缩杆以及下伸缩杆,所述上梳理辊位于纤维条的上部,所述上梳理辊包括上密梳理辊和上疏梳理辊,所述上密梳理辊通过所述第一上升降装置与所述上伸缩杆连接,所述上疏梳理辊通过所述第二上升降装置与所述上伸缩杆连接;所述下梳理辊包括下密梳理辊和下疏梳理辊,所述下密梳理辊通过所述第一下升降装置与所述下伸缩杆连接,所述下疏梳理辊通过所述第二下升降装置与所述下伸缩杆连接;
所述上密梳理辊上沿着所述上密梳理辊的长度方向等间距的分布有所述上密梳理齿,所述上密梳理齿为圆环结构且套在所述上密梳理辊的外圆周上;在所述上疏梳理辊上沿着所述上疏梳理辊的长度方向等间距的分布有所述上疏梳理齿,所述上疏梳理齿为圆环结构且套在所述上疏梳理辊的外圆周上;
所述下密梳理辊上沿着其长度方向等间距的分布有所述下密梳理齿,所述下密梳理齿为圆环结构且套在所述下密梳理辊的外圆周上;在所述下疏梳理辊上沿着其长度方向等间距的分布有所述下疏梳理齿,所述下疏梳理齿为圆环结构且套在所述下疏梳理辊的外圆周上;
所述上密梳理齿在所述上密梳理辊上的间隔间距小于所述上疏梳理齿在所述上疏梳理辊上的间隔间距;所述下密梳理齿在所述下密梳理辊上的间隔间距小于所述下疏梳理齿在所述下疏梳理辊上的间隔间距;
所述上密梳理齿在所述上密梳理辊上的间隔间距等于所述下密梳理齿在所述下密梳理辊上的间隔间距,且所述下密梳理辊上的所述下密梳理齿和所述上密梳理辊上的所述上密梳理齿呈交错排列;所述上疏梳理齿在所述上疏梳理辊上的间隔间距等于所述下疏梳理齿在所述下疏梳理辊上的间隔间距,且所述下疏梳理辊上的所述下疏梳理齿和所述上疏梳理辊上的所述上疏梳理齿呈交错排列;
所述测试方法具体包括如下步骤:
步骤一,截取及加持:将所需测试的条子随机的截取等长的10~30段,截取的每段纤维条的截取长度为纤维条内的纤维的主体长度的两倍,同时在截取的纤维条的中间点处采用加持装置加持;
步骤二,梳理:对经加持装置固定的纤维条通过梳理装置依次进行上下同时梳理阶段、下梳理阶段以及上梳理阶段;
步骤三,前弯钩指数统计:
绘制前理论质量分布曲线:根据纤维条内的纤维的沿着纤维条的长度方向上的随机分布理论,经梳理后位于加持点前侧的纤维条的质量沿着纤维条的长度方向由前端点往加持点处呈线性增加,此时将位于加持点前侧的纤维条沿着纤维条的长度方向由前端点往加持点处等分成若干份并标记等分点,根据上述理论,位于加持点处的一份纤维条质量等于原纤维条的线密度与一份长度的乘积,位于加持点前侧的纤维条的前端的一份纤维条质量等于零,从而给出纤维条的前理论质量分布曲线;
绘制前实际质量分布曲线:将纤维条沿着上述等分点进行切断,且将切断后的每一份的纤维条进行称重测试,将所得数据绘制成前实际质量分布曲线,所述前理论质量分布曲线与所述前实际质量分布曲线绘制于同一坐标系;
所述前理论质量分布曲线和所述前实际质量分布曲线组成的图形的面积即为前弯钩指数,即可反映前弯钩质量分布;
步骤四,后弯钩指数统计:
绘制后理论质量分布曲线:根据纤维条内的纤维的沿着纤维条的长度方向上的随机分布理论,经梳理后位于加持点后侧的纤维条的质量沿着纤维条的长度方向由前端点往加持点处呈线性增加,此时将位于加持点后侧的纤维条沿着纤维条的长度方向由前端点往加持点处等分成若干份并标记等分点,根据上述理论,位于加持点处的一份纤维条质量等于原纤维条的线密度与一份长度的乘积,位于加持点后侧的纤维条的前端的一份纤维条质量等于零,从而给出纤维条的后理论质量分布曲线;
绘制后实际质量分布曲线:将纤维条沿着上述等分点进行切断,且将切断后的每一份的纤维条进行称重测试,将所得数据绘制成后实际质量分布曲线,所述后理论质量分布曲线与所述后实际质量分布曲线绘制于同一坐标系;
所述后理论质量分布曲线和所述后实际质量分布曲线组成的图形的面积即为后弯钩指数,即可反映后弯钩质量分布。
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