[发明专利]同面阵列电容传感器成像方法有效

专利信息
申请号: 202010280246.4 申请日: 2020-04-10
公开(公告)号: CN111413376B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 潘钊;李鹏程;王姗;温银堂;张玉燕;李瑞航;李宗亮;石沙沙;任萍;王震宇;陈禹伏 申请(专利权)人: 燕山大学
主分类号: G01N27/22 分类号: G01N27/22
代理公司: 石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙) 13128 代理人: 张培元
地址: 066044 河北*** 国省代码: 河北;13
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 阵列 电容 传感器 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种同面阵列电容传感器成像方法,其特征在于,包括:

建立电容传感器和待测物体的三维模型,在所述三维模型中确定求解区域,并将所述求解区域划分成有限个求解单元;

分别对所述电容传感器上的每组电极施加循环的点电压激励信号,并计算所述求解区域的原始敏感场;

获取每个所述求解单元的中心坐标和所有电极对的相对点坐标,并根据所述求解单元的中心坐标和所述电极对的相对点坐标确定抗噪声算子;

根据所述原始敏感场和所述抗噪声算子确定优化敏感场;

根据所述优化敏感场确定介电常数分布矩阵,并以所述介电常数分布矩阵为灰度值进行成像;

根据所述求解单元的中心坐标和所述电极对的相对点坐标确定抗噪声算子,包括:

根据所述求解单元的中心坐标和所述电极对的相对点坐标确定所述原始敏感场的优化系数矩阵;

对所述优化系数矩阵进行归一化处理,确定所述抗噪声算子;

所述优化系数矩阵的计算公式为:

所述抗噪声算子的计算公式为:

其中,Mi,j(e)为所述抗噪声算子,mi,j(e)为第i-j号电极对对于求解单元e的重建系数,(xe,ye,ze)为求解单元e的中心点坐标,和分别为第i-j号电极对的两个敏感场的中心点坐标。

2.根据权利要求1所述的同面阵列电容传感器成像方法,其特征在于,所述将所述求解区域划分成有限个求解单元,包括:

根据电磁场理论,以所述电容传感器电极阵列的中心为中心建立两个半径不同的球体,将所述三维模型划分为四部分,包括求解区域、近场区域、远场区域和无穷远区域;

采用三角划分的方式将所述待测物体划分成有限个求解单元。

3.根据权利要求1所述的同面阵列电容传感器成像方法,其特征在于,所述原始敏感场的计算公式为:

其中,Si,j(x,y)为对第i-j号电极对施加激励时在(x,y)处的灵敏度;Ei(x,y)为第i号电极施加电压激励时在(x,y)处的电场强度;Ej(x,y)为对第j号电极施加电压激励时在(x,y)处的电场强度;Vi为施加在第i号电极上的电压;Vj为施加在第j号电极上的电压;p(x,y)为求解区域。

4.根据权利要求1所述的同面阵列电容传感器成像方法,其特征在于,所述优化敏感场的计算公式为:

S0=S*M

其中,S0为优化敏感场,S为原始敏感场,M为抗噪声算子。

5.根据权利要求1所述的同面阵列电容传感器成像方法,其特征在于,所述介电常数分布矩阵计算公式为:

式中,G为介电常数分布矩阵,S0为优化敏感场,C为测量电容矩阵。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于燕山大学,未经燕山大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010280246.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top