[发明专利]一种透反两用的太赫兹探头及其检测方法在审

专利信息
申请号: 202010280541.X 申请日: 2020-04-10
公开(公告)号: CN113514418A 公开(公告)日: 2021-10-19
发明(设计)人: 王丹 申请(专利权)人: 华太极光光电技术有限公司
主分类号: G01N21/3586 分类号: G01N21/3586
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 徐秋平
地址: 200433 上海市杨浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 两用 赫兹 探头 及其 检测 方法
【说明书】:

发明提供一种透反两用的太赫兹探头及其检测方法,包括:底盘;发射模块,设置在所述底盘上,包括太赫兹波发射组件和发射端连接杆,所述太赫兹波发射组件用于发射太赫兹波,所述发射端连接杆与所述太赫兹发射组件相连,且所述太赫兹波沿所述发射端连接杆方向传输;接收模块,设置在所述底盘上,包括太赫兹波接收组件和接收端连接杆,所述接收端连接杆的一端与所述发射端连接杆可转动连接,另一端与所述太赫兹波接收组件相连;所述太赫兹波接收组件用于沿所述接收端连接杆方向接收所述太赫兹波。本发明的透反两用的太赫兹探头及其检测方法能够同时实现透射和反射的太赫兹波检测,无需更换探头,降低了天线的使用损耗。

技术领域

本发明涉及太赫兹探头的技术领域,特别是涉及一种透反两用的太赫兹探头及其检测方法。

背景技术

太赫兹(terahertz,THz)波通常是指频率范围在0.1~10THz(1THz=1012Hz)之间的电磁波,在电磁波谱中位于毫米波和远红外光之间,处于宏观电子学向微观光子学过渡的波段。太赫兹波是一种新型的远红外相干辐射源,由于其安全性、抗扰性和可靠性而被广泛应用于无损检测和物质分析。由于太赫兹波对非极性和非金属物质具有穿透性而无法穿透金属和极性介质,故在大量的工程应用过程中。通常,太赫兹时域光谱系统的检测分为以下两种:

(1)透射式检测

通过分析透过被测物的太赫兹信号吸收峰的频域位置,得到被测物质的吸收峰特性进行被测物质的有效识别。通常,该方式被应用于固体药品识别、火炸药分析及毒品检测等。

(2)反射式检测

通过分析反射信号各个反射峰的时域位置,描述出样品的内部不同介电性质层次,可利用逐点扫描方式形成断层成像。通常,该方式被用于车漆厚度、纤维材料、药物包衣、工业涂装等一系列领域的表面或内部无损检测。

现有技术中,针对透射、反射的检测方式而设计的透射式太赫兹探头和反射式太赫兹探头,分别独立进行探头光学系统的设计、光学元件的选择、光路的调试以及最终探头的外观设计和封装。一方面增加了太赫兹探头成本和时间成本,另一方面由于太赫兹探头的不断更换,容易造成光电导天线的损坏。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种透反两用的太赫兹探头及其检测方法,能够同时实现透射和反射的太赫兹波检测,无需更换探头,降低了天线的使用损耗。

为实现上述目的及其他相关目的,本发明提供一种透反两用的太赫兹探头,包括:底盘;发射模块,设置在所述底盘上,包括太赫兹波发射组件和发射端连接杆,所述太赫兹波发射组件用于发射太赫兹波,所述发射端连接杆与所述太赫兹发射组件相连,且所述太赫兹波沿所述发射端连接杆方向传输;接收模块,设置在所述底盘上,包括太赫兹波接收组件和接收端连接杆,所述接收端连接杆的一端与所述发射端连接杆可转动连接,另一端与所述太赫兹波接收组件相连;所述太赫兹波接收组件用于沿所述接收端连接杆方向接收所述太赫兹波。

于本发明一实施例中,所述太赫兹波发射组件包括发射光电导天线、第一抛物面镜和第一透镜;所述发射光电导天线发出的太赫兹波经由所述第一抛物面反射进入所述第一透镜,经由所述第一透镜透射发出所述太赫兹波。

于本发明一实施例中,所述太赫兹波发射组件还包括发射模块安装座,所述发射光电导天线、所述第一抛物面镜和所述第一透镜固定设置在所述发射模块安装座上;所述发射端连接杆与所述发射模块安装座相连,所述发射模块安装座可活动地安装在所述底盘上。

于本发明一实施例中,所述底盘上设置有螺孔,所述发射模块安装座和所述发射端连接杆均通过螺丝固定在所述底盘上。

于本发明一实施例中,所述螺孔在所述底盘上均匀设置。

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