[发明专利]对实现在一个或多个输入变量中为多项式的函数的集成电路的硬件设计的验证在审

专利信息
申请号: 202010282025.0 申请日: 2020-04-11
公开(公告)号: CN111832235A 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 萨姆·埃利沃特;罗伯特·麦凯美;马克斯·弗里堡豪斯 申请(专利权)人: 畅想科技有限公司
主分类号: G06F30/33 分类号: G06F30/33
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 林强
地址: 英国赫*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 实现 一个 输入 变量 多项式 函数 集成电路 硬件 设计 验证
【权利要求书】:

1.一种验证集成电路的硬件设计的计算机实现的方法(100),所述集成电路对于x的值集合,实现在输入变量x中为k次多项式的函数,x的所述值集合包括x的等距值,k是大于或等于一的整数,所述方法(100)包括在一个或多个处理器中:

通过形式验证对于x的所述值集合中的x的所有值,所述硬件设计的第一实例化均具有恒定kth差,来形式验证硬件设计的所述第一实例化实现在x中为k次多项式的函数(102);以及

验证所述硬件设计的第二实例化响应于x的所述值集合中的x的至少e个不同值中的每一个,生成预期的输出(104),其中当所述kth差的值被预定时,e等于k,当所述kth差的所述值没有被预定时,e等于k+1。

2.如权利要求1所述的方法(100),其中x的所述值集合包括连续的整数块,并且形式验证对于x的所述值集合中的x的所有值,所述硬件设计的所述第一实例化具有恒定kth差包括形式验证所述硬件设计P的所述第一实例化满足:

对于x的所述值集合中的x的所有值,其中c是常数。

3.如权利要求1所述的方法(100),其中当k为一时,形式验证对于x的所述值集合中的所有x,所述硬件设计的所述第一实例化具有恒定kth差包括形式验证所述第一实例化响应于x的所述值集合中的x的任何两个连续值的输出中的差是恒定的。

4.如权利要求1所述的方法(100),其中验证所述硬件设计的所述第二实例化响应于x的所述值集合中的x的至少e个不同值中的每一个而生成预期输出包括:验证所述硬件设计的所述第二实例化根据所述函数,响应于x的所述值集合中的x的至少e个不同值中的每一个而生成正确的输出。

5.如权利要求1所述的方法(100),其中验证所述硬件设计的所述第二实例化响应于x的所述值集合中的x的至少e个不同值中的每一个而生成预期输出包括:验证所述硬件设计的所述第二实例化和另一种硬件设计的实例化对于x的所述值集合中的x的至少e个不同值的功能等效性,其中所述另一种硬件设计是针对对于x的所述值集合中的所有x实现在x中为k次多项式的函数的集成电路;并且

所述方法(100)还包括形式验证对于x的所述值集合中的所有x,所述另一种硬件设计的所述实例化具有恒定kth差。

6.如权利要求5所述的方法(100),其中验证所述硬件设计的所述第二实例化和所述另一种硬件设计的所述实例化对于x的所述值集合中的x的至少e个不同值的所述功能等效性包括:验证对于x的所述值集合中的x的至少e个不同值中的每一个,所述硬件设计的所述第二实例化和所述另一种硬件设计的所述实例化生成彼此相同的输出。

7.如权利要求1所述的方法(100),其中所述函数也是对于x的第二值集合在x中为r次多项式,并且所述方法还包括:

通过形式验证对于x的所述第二值集合中的所有x,所述硬件设计的第三实例化均具有恒定rth差,来形式验证所述硬件设计的所述第三实例化实现在x中为r次多项式的函数;以及

验证所述硬件设计的第四实例化响应于x的所述第二值集合中的x的r+1个不同值中的每一个而生成预期的输出。

8.如权利要求1所述的方法(100),其中:

所述函数也是对于z;的值集合,在第二输入变量z中为多项式

所述方法(100)还包括通过形式验证对于z的所述值集合中的z的所有值,所述硬件设计的第五实例化均具有恒定qth差,来形式验证所述硬件设计的所述第五实例化实现在z中为q次多项式的函数;以及

对于z的至少q个不同值,执行所述硬件设计的所述第二实例化响应于x的所述值集合中的x的至少e个不同值中的每一个而生成预期输出的所述验证。

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