[发明专利]一种电子元件检测方法及检测装置

权利要求书

1.一种电子元件检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

设置待检测的电子元件种类；

采集电子元件需要分面的图像；

分析采集的图像类型；

根据分析出的图像类型调用不同的检测程序进行质量检测；

待检测的电子元件置于待检测工作台；

采集电子元件上表面和下表面的完整图像；

分析电子元件的上表面和下表面的完整图像为电子元件的正面还是背面；根据色度规律，提前制定判断规则，色度相似的设定为同一区域，以此制定正背面判断规律；

判断若为正面，调用正面检测程序对其进行质量检测；

判断若为背面，调用背面检测程序对其进行质量检测；

依据产品电极特征制定正面和背面的判断规则，同时采集电子元件上表面和下表面的完整图像；

通过图像采集设备采集电子元件上表面和下表面的完整图像，其中，图像采集设备包括第一CCD和第二CCD，第一CCD视角投向透明工作转盘上表面，采集贴片电子元件上表面图像，第二CCD视角投向透明工作转盘下表面，采集贴片电子元件下表面图像。

2.根据权利要求1所述的电子元件检测方法，其特征在于，

设置不同电子元件的每一个面的判断程序；

设置不同电子元件的每一个面的检测程序。

3.根据权利要求1所述的电子元件检测方法，其特征在于，所述电子元件正面和背面结构不同。

4.一种电子元件检测装置，其特征在于，用于执行权利要求1所述的电子元件检测方法，其包括供料器、透明工作转盘、图像采集设备和检测系统；其中，所述图像采集设备连接所述检测系统，传输图像给检测系统，供料器输出端连接透明工作转盘，将物料排列输送至透明工作转盘；

所述图像采集设备采集物料上表面图像和物料透过透明工作转盘显示的下表面图像；

所述检测系统判断图像采集设备采集的是哪一个面，并调用不同的检测程序对其进行检测；依据产品电极特征制定正面和背面的判断规则，同时采集电子元件上表面和下表面的完整图像；

通过图像采集设备采集电子元件上表面和下表面的完整图像，其中，图像采集设备包括第一CCD和第二CCD，第一CCD视角投向透明工作转盘上表面，采集贴片电子元件上表面图像，第二CCD视角投向透明工作转盘下表面，采集贴片电子元件下表面图像。

5.根据权利要求4所述的电子元件检测装置，其特征在于，置于透明工作转盘上的物料和所述透明工作转盘同步旋转。

6.根据权利要求4所述的电子元件检测装置，其特征在于，还包括分选料盒，所述分选料盒安装在图像采集设备后端，并设有选料气动装置；

接收检测系统发送的分选信息，选料气动装置将透明工作转盘上的相应物料吹入分选料盒。