[发明专利]与非综合征性唇腭裂相关的SNP位点及检测试剂盒

说明书

本发明提供一种与非综合征性唇腭裂相关的SNP位点，为CD44基因SNP位点rs141953333。本发明还提供所述CD44基因SNP位点在制备非综合征性唇腭裂易感性的检测试剂盒中的应用、用于检测所述CD44基因SNP位点的特异性引物对，以及非综合征性唇腭裂易感性的检测试剂盒。

技术领域

本发明涉及生物医药技术领域，特别涉及一种与非综合征性唇腭裂相关的SNP位点及检测试剂盒。

背景技术

唇腭裂是一种胚胎发育过程中面部各突起融合障碍所形成的先天性发育畸形。在怀孕的第4周到第10周，由於受到某些因素的影响，使面突的正常发育与融合受到阻碍时，可使胎儿发生相应的唇、腭裂畸形。目前医学认为可能的致病因素有:1.遗传因素:部分患儿直系或旁系亲属中有类似畸形发生。2.环境因素:包括感染和损伤：怀孕初期(2个月左右)的母亲感染过病毒，如流感、风疹；母体怀孕期间患有如贫血、糠尿病、严重营养障碍等慢性疾病；怀孕期间服用某些药物如镇静药、抗癫痫药及激素类药等；怀孕期间母体接受过大剂量X线照射。

口腔颌面部的发育开始为胚胎发育的第三周。在胚胎第七周，嗅窝底破裂而形成鼻孔，左右侧上颌突与外侧鼻突相连形成鼻孔底及上唇，两侧内侧鼻突相连形成鼻小柱、人中及前颌，两侧下颌突也向中线生长并相连而形成下颌与下唇。

在胚胎发育的第12周，前端与鼻中隔相连部分骨化形成硬腭，后端不与鼻中隔相连部分无骨质发生，即为软腭。胎儿的口和鼻逐渐具备成人的形态。

唇腭裂是最常见的先天性疾病之一。在一般情况下，发病率约为1/800。根据种族、民族、、地理位置和所处环境的不同，发病率也有所差异。亚洲和美洲印第安人患病率最高，通常为1/500，白种人患病率约在1/1000，非洲人群患病率最低，约1/2500，这表示不同种族之间易感性基因的相对贡献度也不同。我国为唇腭裂高发国家.发病率高达1.82‰，总发生率占我国出生缺陷的14.0l％。唇腭裂患者后代发病危险为普通人的20-30倍。

唇腭裂一般分为综合征性(30％)和非综合征性(70％)。综合征性唇腭裂是由染色体异常或单基因突变引起的，一般以多发畸形的综合征形式出现。非综合征性唇腭裂表现单独畸形，是由遗传背景的易感性和环境因素相互作用造成的，为多基因遗传病，也是唇腭裂基因研究的重点。

发明内容

本发明的目的在于提供一种非综合征性唇腭裂易感性的检测试剂盒，所述检测试剂盒包括用于检测CD44基因SNP位点的物质；其中，所述CD44基因SNP位点为rs141953333。发明人通过研究发现，CD44基因多态性位点rs141953333的等位基因型A与唇腭裂的发病显著相关。因此该CD44基因SNP位点可用于评估个体非综合征性唇腭裂的易感性。

为了达到上述目的，根据本发明的一方面，提供CD44基因SNP位点在制备非综合征性唇腭裂易感性的检测试剂盒中的应用，所述CD44基因SNP位点为rs141953333。

根据本发明的另一方面，提供一种检测上述CD44基因SNP位点的特异性引物对，其中，正向引物P1序列如SEQ ID No.2所示：5′-cctcttggccagatgtgaat-3′；反向引物P2序列如SEQ ID No.3所示：5′-accatgcaagcaatcctacc-3′。

根据本发明的另一方面，提供一种非综合征性唇腭裂易感性的检测试剂盒，包括用于检测CD44基因SNP位点的物质；其中，所述CD44基因SNP位点为rs141953333。

在一些实施例中，所述用于检测CD44基因SNP位点的物质为用于检测CD44基因SNP位点的特异性引物对。

在一些实施例中，在上述检测试剂盒中，所述用于检测CD44基因SNP位点的特异性引物对为：正向引物P1序列如SEQ ID No.2所示：5′-cctcttggccagatgtgaat-3′；反向引物P2序列如如SEQ ID No.3所示：5′-accatgcaagcaatcctacc-3′。