[发明专利]一种CT本体二次回路校验方法在审

专利信息
申请号: 202010286587.2 申请日: 2020-04-13
公开(公告)号: CN111413657A 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 周亚群;张钢;都劲松;曹浩军;吕尚霖;周昭亮;李静 申请(专利权)人: 西安热工研究院有限公司
主分类号: G01R35/02 分类号: G01R35/02
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 房鑫
地址: 710032 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 ct 本体 二次 回路 校验 方法
【权利要求书】:

1.一种CT本体二次回路校验方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)进行CT本体二次回路校验准备工作;

2)通过CT回路校验工具进行CT本体二次回路的正向加压校验工作;

3)测量并记录CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向;

4)判断CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致,当CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向一致时,则转至步骤6),否则,则转至步骤5);

5)查找并消除CT本体二次回路缺陷,然后转至步骤2);

6)通过CT回路校验工具进行CT本体二次回路的反向加压校验工作;

7)测量并记录CT本体二次回路反向电压的实际幅值和方向;

8)判断CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向是否一致,当CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向与CT回路校验工具的输出电压幅值及方向一致,说明CT本体二次回路接线正确可靠,则转至步骤10),否则,则转至步骤9);

9)查找并消除CT本体二次回路缺陷,然后转至步骤6);

10)CT本体二次回路校验完成。

2.根据权利要求书1所述的CT本体二次回路校验方法,其特征在于,步骤1)的具体操作为:

101)将所需校验CT本体处于不带电状态;

102)将所需校验CT本体端子盒至CT本体端子箱二次回路电缆敷设完毕并开列,将CT本体端子盒至CT本体端子箱二次回路电缆按照设计图纸接线完毕;

103)打开CT本体端子盒端盖,确认各组CT铭牌参数与设计参数一致;

104)划开CT本体端子箱中的各电流端子连片,在CT本体端子箱中将CT本体二次回路与CT本体端子箱外部回路彻底隔离;

105)制作CT回路校验工具。

3.根据权利要求书1所述的CT本体二次回路校验方法,其特征在于,CT回路校验工具由干电池组串联组成。

4.根据权利要求书1所述的CT本体二次回路校验方法,其特征在于,步骤2)的具体操作为:

201)将CT回路校验工具的正向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S1;

202)将CT回路校验工具的负向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S2。

5.根据权利要求书1所述的CT本体二次回路校验方法,其特征在于,按照设计图纸,在CT本体端子箱内,通过万用表直流电压档测量并记录CT本体二次回路正向电压的实际幅值及方向和CT本体二次回路反向电压的实际幅值及方向。

6.根据权利要求书1所述的CT本体二次回路校验方法,其特征在于,步骤6)的具体操作为:

601)将CT回路校验工具的正向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S2;

602)将CT回路校验工具的负向电压端连接至CT本体端子盒内CT副边绕组抽头S1。

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