[发明专利]数据储存设备、内部电压微调电路及内部电压微调方法

说明书

数据储存设备、内部电压微调电路及内部电压微调方法。数据储存设备可以包括储存器以及被配置为响应于来自主机的请求来控制储存器的控制器。控制器包括内部电压微调电路，其包括：积分电路，其被配置为通过对从被测装置(DUT)输出的测试电压和参考电压之间的差进行积分来生成积分信号；比较电路，其被配置为通过比较积分信号和参考电压来生成比较信号；转变检测电路，其被配置为根据比较信号的电平转变来输出检测信号；计数器，其被配置为接收初始微调码并通过响应于检测信号而增大或减小初始微调码来生成初步微调码；以及平均电路，其被配置为通过对确定的时间间隔内的初步微调码求平均来生成最终微调码，并将最终微调码提供给储存器。

技术领域

各个实施方式可以总地涉及半导体集成装置，并且更具体地，涉及数据储存设备、内部电压微调电路及内部电压微调方法。

背景技术

半导体装置通过使用从外部提供的外部电压生成的内部电压进行操作，并且为了稳定的操作而需要生成准确的内部电压。内部电压可以例如通过微调(trimming)来生成为期望电平。

半导体装置外部的外部测试装备可以用于电压微调。然而，由于使用外部测试装备进行测试所需的时间与测试成本直接相关，因此引入了称为内置自测(BIST)装置的嵌入式测试装置。

BIST用于通过半导体装置的内部电路将电压微调到目标电平，并减少测试时间和成本。

即使当微调码频繁波动时，生成准确微调码也是影响半导体装置的操作可靠性的因素。

发明内容

根据本公开的实施方式，数据储存设备可以包括储存器；以及控制器，其被配置为响应于来自主机的请求来控制储存器。控制器包括内部电压微调电路，内部电压微调电路包括：积分电路，其被配置为通过对从被测装置(DUT)输出的测试电压和参考电压之间的差进行积分来生成积分信号；比较电路，其被配置为通过比较积分信号和参考电压来生成比较信号；转变检测电路，其被配置为响应于比较信号的电平转变而输出检测信号；计数器，其被配置为接收初始微调码并通过增大或减小初始微调码来生成初步微调码；以及平均电路，其被配置为通过对确定的时间间隔内的初步微调码求平均来生成最终微调码，并将最终微调码提供给储存器。

根据本公开的实施方式，一种被配置为提供用于生成半导体装置的内部电压的微调码的内部电压微调电路。内部电压微调电路可以包括：积分电路，其被配置为通过对从被测装置(DUT)输出的测试电压和参考电压之间的差进行积分来生成积分信号；比较电路，其被配置为通过比较积分信号和参考电压来生成比较信号；转变检测电路，其被配置为响应于比较信号的电平转变而输出检测信号；计数器，其被配置为接收初始微调码并通过响应于检测信号而增大或减小初始微调码来生成初步微调码；以及平均电路，其被配置为通过对确定的时间间隔内的初步微调码求平均来生成最终微调码，并将最终微调码提供给半导体装置。

根据本公开的实施方式，一种由用于生成半导体装置的内部电压的内部电压微调电路执行的微调方法可以包括：通过对从被测装置(DUT)输出的测试电压和参考电压之间的差进行积分来生成积分信号；通过比较积分信号和参考电压来生成比较信号；响应于比较信号的电平转变而输出检测信号；通过响应于检测信号而增大或减小初始微调码来生成初步微调码；以及通过对确定的时间间隔内的初步微调码求平均来生成最终微调码，并将最终微调码提供给半导体装置。

附图说明

从以下结合附图的详细描述中，将更清楚地理解本公开的主题的上述和其它方面、特征和优点，在附图中：

图1是例示根据本公开的实施方式的数据储存设备的配置的图；

图2是例示根据本公开的实施方式的数据储存设备中包括的非易失性存储器装置的配置的图；

图3是例示根据本公开的实施方式的内部电压微调电路的配置的图；

图4是例示根据本公开的实施方式的积分电路的配置的图；