[发明专利]一种致密碳酸盐岩储层的无阻流量和配产的确定方法

说明书

本发明属于气田技术领域，具体涉及一种致密碳酸盐岩储层的无阻流量和配产的确定方法，该无阻流量确定方法首先获取致密碳酸盐岩储层的残留厚度、白云岩储层厚度、光电吸收截面指数和构造曲率中与无阻流量模型相关的因素，然后代入至无阻流量模型中，得到致密碳酸盐岩储层的无阻流量；且无阻流量模型是根据残留厚度、白云岩储层厚度、光电吸收截面指数和构造曲率中的至少两个因素与无阻流量的关系构建的，且白云岩储层厚度、构造曲率均与无阻流量呈正相关关系，残留厚度、光电吸收截面指数均与无阻流量呈负相关关系。本发明利用建立的无阻模型得到无阻流量，方法简单、计算结果精度高，对产能的预测精度高，保障了气井的开发效果。

技术领域

本发明属于气藏开发研究技术领域，具体涉及一种致密碳酸盐岩储层的无阻流量和配产的确定方法。

背景技术

气井产能是进行气井合理配产、评价气田生产能力的重要依据，其评价结果的可靠与否，直接关系到气田能否实现安全平稳生产。目前常用的气井产能确定方法可可分六大类，分别为无阻流量法、采气指示曲线法、生产动态分析法、数值模拟法、经验类比法和特殊气井的产能确定法。

目前，气田气井在投产初期时多采用一点经验法产能经验公式计算气井的无阻流量，即结合气井产能方程，利用一个单点稳定流测试数据确定气井产能的方法。

现有技术中常用的方法，基于渗流力学和气藏工程方法，将储层看作是一个均匀分布的储层，将储层的孔隙度、渗透率等参数均对应等效成一个数值来进行无阻流量的计算，适用于均质单孔介质的储层，未考虑储层地质条件，对于双重介质储层，例如裂缝发育的碳酸盐岩气藏，非均质性强，含气性差异大，上述方法不再适用，无阻流量的预测结果不准。

发明内容

本发明提供了一种致密碳酸盐岩储层的无阻流量和配产的确定方法，用以解决现有技术的无阻流量预测方法不准的问题。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案和相应有益效果如下：

本发明提供了一种致密碳酸盐岩储层的无阻流量确定方法，包括如下步骤：

获取致密碳酸盐岩储层的残留厚度、白云岩储层厚度、光电吸收截面指数和构造曲率中与无阻流量模型相关的因素，并代入至无阻流量模型中，得到致密碳酸盐岩储层的无阻流量；

其中，所述无阻流量模型是根据残留厚度、白云岩储层厚度、光电吸收截面指数和构造曲率中的至少两个因素与无阻流量的关系构建的，且白云岩储层厚度、构造曲率均与无阻流量呈正相关关系，残留厚度、光电吸收截面指数均与无阻流量呈负相关关系。

上述技术方案的有益效果为：本发明充分考虑影响气藏的高产主控因素，包括残留厚度、白云岩储层厚度、光电吸收截面指数和构造曲率中的至少两个因素，构建出适应性强、更贴合实际的无阻流量模型，利用该无阻模型得到无阻流量，方法简单、计算结果精度高，适用于双重介质气藏，对产能的预测精度高，保障了气井的开发效果。

作为该无阻流量确定方法的进一步改进，为了简单快速计算得到无阻流量模型，所述无阻流量模型采用线性多元回归法构建得到。

作为该无阻流量确定方法的进一步改进，所述无阻流量模型根据残留厚度、白云岩储层厚度、光电吸收截面指数和构造曲率与无阻流量的关系构建得到的，且所述无阻流量为：

式中，Q_AOF为无阻流量，H₁为残留厚度，H₂为白云岩储层厚度，Pe为光电吸收截面指数，γ为构造曲率，k₁、k₂、k₃、k₄、k₅、k₆均为设定系数，且均大于0，x₁为设定常数。