[发明专利]缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质。本申请的缺陷检测方法包括：获取物品图像；利用目标检测算法检测所述物品图像；在利用所述目标检测算法确定所述物品检测合格时，利用视觉识别算法检测所述物品图像；或利用视觉识别算法检测所述物品图像；在利用所述视觉识别算法确定所述物品检测合格时，利用目标检测算法检测所述物品图像。本申请的缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质，通过两个算法对物品图像进行互补检测，这样可降低缺陷检测的漏检率。

技术领域

本申请涉及物品缺陷检测技术领域，特别涉及一种缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质。

背景技术

在制造业相关技术中，可通过目标检测算法识别物品的缺陷。而目标检测算法依赖于对样本的训练，在样本经过训练后，能够快速学习样本的特征，然后将其应用于识别类似缺陷。但是，如果在缺陷检测过程中，出现了样本从未出现过的新缺陷时，目标检测算法对新缺陷无法有效识别，容易发生漏检，从而使得存在缺陷的物品直接流入下一个工序。

发明内容

本申请实施方式提供了一种缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质。

本申请实施方式的缺陷检测方法包括：获取物品图像；利用目标检测算法检测所述物品图像；在利用所述目标检测算法确定所述物品检测合格时，利用视觉识别算法检测所述物品图像；或利用视觉识别算法检测所述物品图像；在利用所述视觉识别算法确定所述物品检测合格时，利用目标检测算法检测所述物品图像。

本申请实施方式的缺陷检测装置包括处理器。所述处理器用于获取物品图像；利用目标检测算法检测所述物品图像，及在利用所述目标检测算法确定所述物品检测合格时，利用视觉识别算法检测所述物品图像；或利用视觉识别算法检测所述物品图像，及在利用所述视觉识别算法确定所述物品检测合格时，利用目标检测算法检测所述物品图像。

本申请实施方式的计算机可读存储介质存储有计算机程序。所述计算机程序被处理器执行时实现以下缺陷检测方法：获取物品图像；利用目标检测算法检测所述物品图像；在利用所述目标检测算法确定所述物品检测合格时，利用视觉识别算法检测所述物品图像；或利用视觉识别算法检测所述物品图像；在利用所述视觉识别算法确定所述物品检测合格时，利用目标检测算法检测所述物品图像。

本申请实施方式的缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质，通过两个算法对物品图像进行互补检测，这样可降低缺陷检测的漏检率。

本申请实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请的上述和/或附加的方面和优点可以从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请某些实施方式的缺陷检测方法的流程示意图。

图2是本申请某些实施方式的缺陷检测方法的另一流程示意图。

图3是本申请某些实施方式的缺陷检测装置的示意图；

图4是本申请某些实施方式的缺陷检测方法的又一流程示意图。

图5是本申请某些实施方式的缺陷检测方法的再一流程示意图。

图6是本申请某些实施方式的缺陷检测方法的再一流程示意图。

图7是本申请某些实施方式的缺陷检测方法的再一流程示意图。

图8是本申请某些实施方式的缺陷检测方法的再一流程示意图。

图9是本申请某些实施方式的缺陷检测方法的再一流程示意图。

图10是本申请某些实施方式的缺陷检测方法的再一流程示意图。