[发明专利]电子设备及其散热故障监测方法

说明书

本申请公开了一种电子设备，所述电子设备包括外壳，在所述外壳内布置有至少一个运行时能够产生热量的电子器件以及散热风扇，所述外壳设有空气入口和空气出口，在所述空气入口与所述空气出口之间限定一经由所述散热风扇的运行而使得空气进出所述外壳的气流通道，所述电子器件至少部分地位于所述气流通道中，其特征在于，所述电子设备还包括在所述气流通道中或附近设置气压传感器，以检测所述风扇运行时所述气流通道中的气压值，以便能够基于所述电子器件的温度、所述散热风扇的转速、以及所述气压值判断所述气流通道是否阻塞。本申请还公开了一种电子设备的散热故障监测方法。

技术领域

本申请大体上涉及通过气压检测来判断电子设备中阻碍正常散热的故障点。

背景技术

在当前无论规模大小的电子设备中，通常会存在产生热量的电子器件。以笔记本电脑为例，其CPU和显卡等均是严重产生热量的器件。为了确保这些器件的正常运行，通常为它们配备专门的散热装置。例如，在笔记本电脑的外壳中，会为CPU配备导热管，将热量自CPU导出，同时配备风扇，以将导热管导出的热量向外消散。这样，在笔记本电脑的外壳中，会设置空气入口与空气出口，以在空气入口与空气出口之间限定一气流通道，并且令导热管与该空气通道产生至少部分地交叉。这样，在风扇运行时，通过将空气从入口吸入并从出口排出而在气流通道内产生流动的气流。该气流会至少部分地带走导热管的热量，因而使得CPU降温。

通常，风扇的转速会被监测，以此来认定上述散热过程是否正常。因为气流会将外界的诸如灰尘等的异物带入上述气流通道内，设备长期运行的话势必会在气流通道内造成异物阻塞，并进而影响散热过程。但是，传统依靠监测风扇转速来判断散热是否正常的措施无法解决这种气流通道阻塞造成的散热不畅的问题。因此，需要研发其它措施来解决这一问题。

发明内容

本申请旨在提出一种新颖的检测措施，从而能够更加全面地确定配备有散热风扇的电子设备中的散热故障。

根据本申请的一个方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括外壳，在所述外壳内布置有至少一个运行时能够产生热量的电子器件以及散热风扇，所述外壳设有空气入口和空气出口，在所述空气入口与所述空气出口之间限定一经由所述散热风扇的运行而使得空气进出所述外壳的气流通道，所述电子器件至少部分地位于所述气流通道中，其中，所述电子设备还包括在所述气流通道中或附近设置气压传感器，以检测所述风扇运行时所述气流通道中的气压值，以便能够基于所述电子器件的温度、所述散热风扇的转速、以及所述气压值判断所述气流通道是否阻塞。这样，解决了现有技术无法确定是否因气流通道阻塞造成散热不畅的问题。

可选地，如果所述电子器件的温度大于一第一预定值、所述风扇的转速大于一第二预定值并且所述气压值大于一第三预定值，则认定所述气流通道阻塞。

可选地，所述气压传感器仅在所述电子器件的温度大于所述第一预定值且所述风扇的转速大于所述第二预定值后才启动，以检测所述风扇运行时所述气流通道中的气压值，这样避免了因气压传感器频繁测值、进而因波动范围剧烈的检测值导致的频繁报警的情况。

可选地，所述气压传感器靠近所述空气出口和/或所述散热风扇布置，从而确保全程检测气流通道的压力变化情况。

可选地，所述气压传感器是MEMS气压传感器，从而确保这种气压传感器能够被布置在狭小空间内，实现对便携式电子设备的散热检测。

可选地，所述电子设备为笔记本电脑，所述电子器件为所述笔记本电脑的CPU和/或GPU，并且所述第一预定值是在65℃～71℃的范围内，优选是68℃；和/或，所述第二预定值是在4800rpm～5200rpm的范围内，优选是5000rpm；和/或，所述第三预定值是在40Pa至50Pa的范围内。