[发明专利]毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置及其操作方法

权利要求书

1.一种毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置，其特征在于，包括毫米波电轴检测模块、可见光/红外光转换模块和红外光成像模块；

所述毫米波电轴检测模块用于检测所述毫米波/红外复合模拟器发出的毫米波信号的毫米波电轴并转换得到与所述毫米波电轴同轴的可见光光轴；

所述可见光/红外光转换模块用于形成与所述可见光光轴同轴的红外光；

所述红外光成像模块用于接收与所述可见光光轴同轴的红外光和所述毫米波/红外复合模拟器发出的红外光信号并进行红外光成像以对所述毫米波/红外复合模拟器进行同轴度标定；

其中，所述毫米波电轴检测模块包括毫米波接收天线、经纬仪和经纬仪反射镜。

2.根据权利要求1所述的毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置，其特征在于，

所述毫米波接收天线用于接收所述毫米波/红外复合模拟器发出的毫米波信号，检测所述毫米波信号的毫米波电轴；

所述经纬仪反射镜，相对于所述毫米波接收天线检测得到的毫米波电轴垂直设置，用于将所述毫米波/红外复合模拟器发出的毫米波信号反射至所述经纬仪；

所述经纬仪用于基于自准直原理将所述毫米波电轴转换得到与所述毫米波电轴同轴的可见光光轴。

3.根据权利要求1所述的毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置，其特征在于，所述可见光/红外光转换模块包括可见光成像器、光路折转反射镜和可见光/红外平行光管；

所述可见光/红外平行光管用于发出同轴的可见光和红外光；

所述光路折转反射镜用于将同轴的可见光和红外光反射形成反射光；

所述可见光成像器，与所述可见光光轴同轴设置，用于对所述可见光光轴的可见光和所述反射光进行可见光成像以调整所述可见光/红外平行光管的发光轴线使所述反射光与所述可见光光轴重合以使所述可见光/红外平行光管形成与所述可见光光轴同轴的红外光。

4.根据权利要求1所述的毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置，其特征在于，所述红外光成像模块包括红外热像仪。

5.根据权利要求3所述的毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置，其特征在于，所述毫米波电轴检测模块、所述光路折转反射镜、所述可见光成像器和所述红外光成像模块沿所述毫米波/红外复合模拟器的轴线依次设置，并能够沿垂直于所述毫米波/红外复合模拟器的轴线的方向移动。

6.根据权利要求5所述的毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置，其特征在于，所述可见光/红外平行光管与所述毫米波/红外复合模拟器的轴线垂直设置，所述光路折转反射镜与所述毫米波/红外复合模拟器的轴线形成的夹角为45°。

7.根据权利要求1所述的毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置，其特征在于，所述毫米波电轴检测模块、所述可见光/红外光转换模块和所述红外光成像模块设于测量定位调整台上。

8.一种如权利要求1-7任一项所述的毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置的操作方法，其特征在于，包括：

检测所述毫米波/红外复合模拟器发出的毫米波信号的毫米波电轴并转换得到与所述毫米波电轴同轴的可见光光轴；

形成与所述可见光光轴同轴的红外光；

接收与所述可见光光轴同轴的红外光和所述毫米波/红外复合模拟器发出的红外光信号并进行红外光成像以对所述毫米波/红外复合模拟器进行同轴度标定。

9.根据权利要求8所述的毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置的操作方法，其特征在于，所述检测所述毫米波/红外复合模拟器发出的毫米波信号的毫米波电轴并转换得到与所述毫米波电轴同轴的可见光光轴具体包括：

通过所述毫米波接收天线接收所述毫米波/红外复合模拟器发出的毫米波信号，检测所述毫米波信号的毫米波电轴；

将经纬仪反射镜相对于所述毫米波接收天线检测得到的毫米波电轴垂直设置，将所述毫米波/红外复合模拟器发出的毫米波信号反射至所述经纬仪；

通过所述经纬仪基于自准直原理将所述毫米波电轴转换得到与所述毫米波电轴同轴的可见光光轴。

10.根据权利要求8所述的毫米波/红外复合模拟器同轴度标定装置的操作方法，其特征在于，所述形成与所述可见光光轴同轴的红外光具体包括：

根据可见光光轴的可见光在可见光成像器上的可见光成像调整可见光成像器的位置使所述可见光成像器与所述可见光光轴同轴设置；

通过可见光/红外平行光管发出同轴的可见光和红外光；

通过光路折转反射镜将同轴的可见光和红外光反射形成反射光；

通过所述可见光成像器对所述可见光光轴的可见光和所述反射光进行可见光成像；

调整所述可见光/红外平行光管的发光轴线使所述反射光与所述可见光光轴重合；

使所述可见光/红外平行光管形成与所述可见光光轴同轴的红外光。