[发明专利]一种红外反射杂光的检测方法及系统

权利要求书

1.一种红外反射杂光的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：

构建与实体红外摄像头相同的红外摄像头仿真模型，其中，所述红外摄像头仿真模型包括仿真镜头以及位于所述仿真镜头外围的至少一个仿真红外光源；

控制所述仿真红外光源发出红外光，并获得位于所述仿真镜头的接收面的所述红外光的光学参数；

利用所述光学参数评估与所述红外摄像头仿真模型对应的所述实体红外摄像头的红外反射杂光情况。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述利用所述光学参数评估与所述红外摄像头仿真模型对应的实体红外摄像头的红外反射杂光情况，包括：

判断所述光学参数是否超过预设阈值；

若是，则判定与所述红外摄像头仿真模型对应的所述实体红外摄像头有红外反射杂光情况；

否则，判定与所述红外摄像头仿真模型对应的所述实体红外摄像头无红外反射杂光情况。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述判定与所述红外摄像头仿真模型对应的所述实体红外摄像头有红外反射杂光情况之后，还包括：

获取所述红外摄像头仿真模型中所述红外反射杂光的光线路径；

从所述光线路径中分析获得诱发所述红外反射杂光的诱发位置；

在当前所述红外摄像头仿真模型中设置阻挡件，所述阻挡件用于阻挡来自于所述诱发位置的所述红外反射杂光。

4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，

所述红外摄像头仿真模型还包括位于所述仿真镜头和所述仿真红外光源外侧的外壳，且所述仿真镜头的至少部分未被所述外壳覆盖；

所述诱发位置在所述外壳上，所述阻挡件位于所述仿真镜头的所述接收面的四周。

5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，

所述阻挡件包括硅胶圈。

6.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述构建红外摄像头仿真模型，包括：

根据所述实体红外摄像头中的红外光源构建对应的所述仿真红外光源；

将所述仿真红外光源加入到所述红外摄像头仿真模型除所述仿真红外光源外的结构模型中以形成所述红外摄像头仿真模型。

7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述实体红外摄像头中的红外光源构建对应的所述仿真红外光源，包括：

从数据库中选择发射角与所述实体红外摄像头中的所述红外光源的发射角一致的仿真红外光源；

根据所述实体红外摄像头中的所述红外光源的辐射功率和波长设置所述仿真红外光源的辐射功率和波长。

8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述仿真镜头的所述接收面为所述仿真镜头接收所述红外光的第一面镜片。

9.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述光学参数包括：辐照度、光强度和空间亮度中至少一种。

10.一种红外反射杂光的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序指令，所述处理器能够执行所述程序指令以实现如权利要求1-9所述的红外反射杂光的检测方法。