[发明专利]一种测试载台及测试方法在审
申请号: | 202010297311.4 | 申请日: | 2020-04-15 |
公开(公告)号: | CN113533790A | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 冯涛涛 | 申请(专利权)人: | 阿里巴巴集团控股有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/00 |
代理公司: | 北京智信四方知识产权代理有限公司 11519 | 代理人: | 吕雁葭;宋海龙 |
地址: | 英属开曼群岛大开*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 方法 | ||
本公开实施例公开了一种测试载台及测试方法,所述测试载台包括:承载部,用于承载待测对象;测试部件,设置在所述承载部上,所述测试部件的第一端用于与所述待测对象的测试点相连接,所述测试部件的第二端用于与测试设备的测试器件相连;电源,用于向所述待测对象供电;电源连接器,用于将所述电源连接到所述待测对象的供电部。该技术方案通过将待测对象提前与测试载台相连接,使测试载台在测试开始前就能够向待测对象供电,以提前启动待测对象,从而节约测试时间,缩短测试周期,提高测试效率。
技术领域
本公开涉及设备检测领域,具体涉及一种测试载台及测试方法。
背景技术
电子设备在出厂前要经历各种性能测试。在测试过程中,一般是将被测电子设备放置于测试设备上,测试设备检测到被测电子设备放置到位之后,对被测电子设备加电以启动被测电子设备,然后通过测试探针对被测电子设备进行测试。电子设备通电后启动通常需要花费一定时间,这一启动过程花费的时间使设备测试周期拉长,测试效率低下。
发明内容
为了解决相关技术中的问题,本公开实施例提供一种测试载台及测试方法。
第一方面,本公开实施例中提供了一种测试载台。
具体地,所述测试载台包括:
承载部,用于承载待测对象;
测试部件,设置在所述承载部上,所述测试部件的第一端用于与所述待测对象的测试点相连接,所述测试部件的第二端用于与测试设备的测试器件相连;
电源,用于向所述待测对象供电;
电源连接器,用于将所述电源连接到所述待测对象的供电部。
结合第一方面,本公开在第一方面的第一种实现方式中,所述测试部件是探针。
结合第一方面,本公开在第一方面的第二种实现方式中,所述测试部件的所述第一端从所述承载部的面向所述测试点的第一表面突出或与所述第一表面平齐或相对于所述第一表面凹陷,所述测试部件的所述第二端从所述承载部的面向所述测试器件的第二表面突出或与所述第二表面平齐或相对于所述第二表面凹陷。
结合第一方面,本公开在第一方面的第三种实现方式中,所述测试部件设置在所述承载部的底部和/或侧部和/或顶部。
结合第一方面,本公开在第一方面的第四种实现方式中,所述承载部设置有多个测试位,所述多个测试位的不同组合方式对应于不同测试模式或不同待测对象,所述测试部件可移动地设置于所述多个测试位中的至少一个测试位上。
结合第一方面,本公开在第一方面的第五种实现方式中,所述电源连接器包括馈电探针或馈电插头或馈电插座。
结合第一方面,本公开在第一方面的第六种实现方式中,所述测试载台的外形与所述测试设备的承载部的外形相匹配,所述测试设备的承载部用于承载所述测试载台。
第二方面,本公开实施例中提供了一种测试方法,其中所述测试方法使用第一方面、第一方面的第一种实现方式到第一方面的第六种实现方式中任意一种的测试载台。
具体地,所述测试方法,包括:
将所述待测对象放置到所述测试载台的承载部上,所述待测对象的测试点与所述测试部件的所述第一端相连接;
通过所述电源连接器,使用所述电源向所述待测对象供电,以启动所述待测对象;
将所述测试载台放置到所述测试设备的承载部上,所述测试部件的所述第二端与所述测试设备的所述测试器件相连接;
通过所述测试设备测试所述待测对象。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿里巴巴集团控股有限公司,未经阿里巴巴集团控股有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010297311.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。