[发明专利]5G毫米波基站的射频性能测试装置及方法

说明书

本发明涉及射频技术领域，公开了一种5G毫米波基站的射频性能测试装置及方法，该装置包括控制模块和功率检测组件，在测试板上设置处理模块、多个功率检测器件和多个探针，处理模块分别与多个功率检测器件电连接，在测试时，将各个探针与对应射频单元的输出端电连接，控制模块的第一输出端与5G毫米波基站的基带单元的控制端电连接，以触发基带单元控制射频单元发射射频信号，控制模块的第二输出端与处理模块的控制端电连接，控制处理模块读取对应功率检测器件检测到的功率，从而实现对射频性能的测试，测试操作简单快速、成本低，便于进行大规模批量生产测试。

技术领域

本发明涉及射频技术领域，特别是涉及一种5G毫米波基站的射频性能测试装置及方法。

背景技术

第五代移动通信系统已经正式商用，在5G毫米波频段，有源阵列天线将会大规模应用，目前，一般通过PCB板的过孔把射频单元和天线集成在一起，集成后的射频单元和天线之间没有了传统的射频电缆。

在现有技术中，主要采用射频单元单独测试的方式进行射频性能测试，具体为控制射频单元输出特定频率的功率信号，并使射频单元输出端口通过射频测试线缆连接到频谱仪、功率计等测试仪器进行测试，这种测试方法操作复杂、用时长，并且对仪器设备要求高，在毫米波波段，连接射频电缆进行测试已经变得不现实，在众多射频单元数量(比如64单元、128单元、256单元等)测试中需要配置大量测试仪器，测试成本极高，因此，单独测试射频单元性能的传统方法不适用于5G毫米波基站的射频性能测试。

发明内容

本发明实施例的目的是提供一种5G毫米波基站的射频性能测试装置及方法，其能够对5G毫米波基站进行射频性能测试。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供一种5G毫米波基站的射频性能测试装置，包括控制模块和功率检测组件，所述控制模块的第一输出端用于与5G毫米波基站的基带单元的控制端电连接；其中，所述5G毫米波基站的基带单元分别与5G毫米波基站的多个射频单元的输入端电连接；

所述功率检测组件包括测试板，所述测试板上设有处理模块、多个功率检测器件和多个探针，所述控制模块的第二输出端与所述处理模块的控制端电连接，所述处理模块分别与多个所述功率检测器件电连接，所述功率检测器件的检测端与所述探针电连接，所述探针用于与所述射频单元的输出端电连接；其中，多个所述功率检测器件与多个所述探针和多个所述射频单元均为一一对应的关系。

作为优选方案，所述功率检测器件的检测端与所述探针电连接，具体为：所述测试板上还设有多个第一导电过孔，所述功率检测器件的检测端通过所述第一导电过孔与所述探针电连接；其中，多个所述第一导电过孔与多个所述功率检测器件和多个所述探针均为一一对应的关系。

作为优选方案，所述5G毫米波基站包括电路板，所述电路板设有多个所述射频单元、多个微带天线和多个第二导电过孔，所述射频单元的输出端通过所述第二导电过孔与所述微带天线电连接，多个所述射频单元与多个所述微带天线和多个所述第二导电过孔均为一一对应的关系，则所述探针用于与所述射频单元的输出端电连接，具体为：

所述探针用于插设在所述第二导电过孔上，以使所述探针通过所述第二导电过孔与所述射频单元的输出端电连接。

作为优选方案，所述探针的大小与所述第二导电过孔的大小相适配。

作为优选方案，所述功率检测器件为射频功率检测芯片。

作为优选方案，所述功率检测器件为功率计。

作为优选方案，所述测试板为PCB板。

作为优选方案，所述处理模块为CPU芯片。

为了解决相同的技术问题，本发明实施例还提供一种基于所述的5G毫米波基站的射频性能测试装置的5G毫米波基站的射频性能测试方法，所述探针和所述射频单元的数量均为N个，所述方法包括以下步骤：