[发明专利]光谱测定装置和光谱测定方法

说明书

本公开提供了一种光谱测定装置，包括控制器，该控制器：使第一照射光和第二照射光在彼此不同的时机从第一光发射器和第二光发射器照射；与第一照射光和第二照射光的照射时机同步地，在彼此不同的时机将与第一光接收信号有关的信息和与第二光接收信号有关的信息存储在存储器中；基于在第一时间段期间存储在存储器中的与第一光接收信号有关的信息，获取与第一光谱有关的信息；并且基于在第二时间段期间存储在存储器中的与第二接收信号有关的信息，获取与第二光谱有关的信息。

相关申请的交互引用

本申请要求2019年5月17日提交的日本专利申请第2019-093308号的优先权，其内容通过援引加入本申请。

技术领域

本发明总体上涉及一种光谱测定装置和光谱测定方法。

背景技术

已知基于光谱(例如吸收光谱)以光谱学方法获取与分析对象有关的信息的常规技术。

例如，专利文献1公开了一种插入式气体浓度测量装置，该装置可以通过使用两个光发射单元以及分别对应于这两个光发射单元的两个光接收单元，在一个装置中同时分析不同分析波长的两种气体成分。

专利文献1：日本专利申请公开第2015-137910号

在这样的光谱测定装置中，根据两个光接收单元的配置，可以想到的是，两束待测光——基于在彼此相同的时机分别从两个光发射单元照射的两束照射光——被每个光接收单元同时接收。此时，如果构成每个光接收单元的光电探测器的波长带彼此重叠，则每个光接收单元的接收信号也会包含与基于另一照射光(其与这一个对应的照射光不同)的光谱有关的信息。这降低了分析精度。

发明内容

本发明的一个或多个实施例提供了一种即使在基于两束照射光进行光谱测定的情况下也可以提高分析精度的光谱测定装置和光谱测定方法。

根据本发明的一个或多个实施例的光谱测定装置设置有：控制单元；第一光发射单元，该第一光发射单元向待测气体照射第一照射光；第二光发射单元，该第二光发射单元向所述待测气体照射第二照射光；第一光接收单元，该第一光接收单元输出第一接收信号，该第一接收信号包括与所述待测气体中的第一分析对象成分的第一光谱有关的信息并且基于所述第一照射光而获得；第二光接收单元，该第二光接收单元输出第二接收信号，该第二接收信号包括与所述待测气体中的第二分析对象成分的第二光谱有关的信息并且基于所述第二照射光而获得；以及存储单元，该存储单元存储与所述第一接收信号有关的信息和与所述第二接收信号有关的信息。所述控制单元：使所述第一照射光和所述第二照射光在彼此不同的时机从所述第一光发射单元和所述第二光发射单元照射；与所述第一照射光和所述第二照射光的照射时机同步地，在彼此不同的时机将与所述第一接收信号有关的信息和与所述第二接收信号有关的信息存储在所述存储单元中；基于在第一时间段期间存储在所述存储单元中的与第一接收信号有关的信息，获取与所述第一光谱有关的信息；并且基于在第二时间段期间存储在所述存储单元中的与第二接收信号有关的信息，获取与所述第二光谱有关的信息。根据这种光谱测定装置，即使在基于两束照射光(即所述第一照射光和所述第二照射光)进行光谱测定的情况下，分析精度也得到提高。例如，通过在彼此不同的时机从所述第一光发射单元和所述第二光发射单元照射所述第一照射光和所述第二照射光，所述光谱测定装置可以在通过所述第一光发射单元和所述第一光接收单元的组合执行测量的同时，基于干扰被抑制的测量数据进行光谱测定，所述抑制通过使不与测量相对应的基于所述第二照射光的待测光不入射到所述第一光接收单元而实现。同样，所述光谱测定装置可以在通过所述第二光发射单元和所述第二光接收单元的组合执行测量的同时，基于干扰被抑制的测量数据进行光谱测定，所述抑制通过使不与测量相对应的基于所述第一照射光的待测光不入射到所述第二光接收单元而实现。