[发明专利]一种屏蔽门的故障预测方法、装置、终端设备及存储介质

权利要求书

1.一种屏蔽门的故障预测方法，其特征在于，包括：

获取待预测屏蔽门的继电器的特征参数；其中，所述特征参数包括：线圈电阻、吸合电压、释放电压、触点压力、接触电阻的阻值以及回跳时长；

将所述特征参数输入预设的继电器故障预测模型中，以使所述继电器故障预测模型对所述继电器线圈发生故障时继电器的总吸合次数，以及继电器触点发生故障时继电器的总吸合次数进行预测，获得继电器线圈发生故障时的第一吸合次数和继电器触点发生故障时的第二吸合次数；

根据所述第一吸合次数、第二吸合次数以及所述继电器的每日吸合次数，计算所述继电器从开始使用至发生故障的寿命时长，继而根据继电器的寿命时长获得所述屏蔽门从开始使用至发生故障时的寿命时长。

2.如权利要求1所述的屏蔽门的故障预测方法，其特征在于，通过以下方式构建所述继电器故障预测模型：

获取各继电器样本的特征参数、各继电器样本在继电器线圈发生故障时继电器的总吸合次数以及各继电器样本在继电器触点发生故障时继电器的总吸合次数；

以各继电器样本的特征参数为输入，以各继电器样本在继电器线圈发生故障时继电器的总吸合次数以及各电器样本在继电器触点发生故障时继电器的总吸合次数为输出，通过神经网络进行训练，获得所述故障预测模型。

3.如权利要求2所述的屏蔽门的故障预测方法，其特征在于，所述神经网络为四层LSTM网络结构的神经网络。

4.一种屏蔽门的故障预测装置，其特征在于，包括参数获取模块、吸合次数计算模块以及寿命时长计算模块；

所述参数获取模块，用于获取待预测屏蔽门的继电器的特征参数；其中，所述特征参数包括：线圈电阻、吸合电压、释放电压、触点压力、接触电阻的阻值以及回跳时长；

所述吸合次数计算模块，用于将所述特征参数输入预设的继电器故障预测模型中，以使所述继电器故障预测模型对所述继电器线圈发生故障时继电器的总吸合次数，以及继电器触点发生故障时继电器的总吸合次数进行预测，获得继电器线圈发生故障时的第一吸合次数和继电器触点发生故障时的第二吸合次数；

所述寿命时长计算模块，用于根据所述第一吸合次数、第二吸合次数以及所述继电器的每日吸合次数，计算所述继电器从开始使用至发生故障的寿命时长，继而根据继电器的寿命时长获得所述屏蔽门从开始使用至发生故障时的寿命时长。

5.一种终端设备，其特征在于，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中并被配置为有所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-3任意一项所述的屏蔽门的故障预测方法。

6.一种存储介质，所述存储介质包括存储的计算机程序，所述计算机程序运行时，控制所述存储介质所在的设备执行如权利要求1-3中任意一项所述的屏蔽门的故障预测方法。