[发明专利]检测产品的方法和产品检测装置

权利要求书

1.一种用于检测产品的方法，包括：

根据第一曝光值，获取所述产品的第一图像；

根据第二曝光值，获取所述产品的第二图像；以及

根据所述第一图像的第一特征值、所述第二图像的第二特征值、第一预设特征值及第二预设特征值，判断所述产品具缺陷。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述产品包括第一部分及第二部分，所述获取所述第一图像的步骤包括：

根据所述第一曝光值，获取所述产品的第一部分的第一子图像；

根据所述第一曝光值，获取所述产品的第二部分的第二子图像；以及

根据所述第一子图像及所述第二子图像，产生所述第一图像。

3.如权利要求2所述的方法，所述获取所述第二图像的步骤包括：

根据所述第二曝光值，获取所述产品的第一部分的第三子图像；

根据所述第二曝光值，获取所述产品的第二部分的第四子图像；以及

根据所述第三子图像及所述第四子图像，产生所述第二图像。

4.如权利要求2所述的方法，其中所述第一特征值包括所述第一子图像的第一子特征值及所述第二子图像的第二子特征值，所述第一预设特征值包括第一子预设特征值及第二预设子特征值，所述判断步骤包括：

根据所述第一子特征值大于所述第一预设子特征值，判断所述产品有缺陷；或，

根据所述第二子特征值大于所述第二预设子特征值，判断所述产品有缺陷。

5.如权利要求4所述的方法，进一步包括根据所述缺陷位于所述产品的第一部分的判断，产生标记于所述第一子图像，或者根据所述缺陷位于所述产品的第二部分的判断，产生标记于所述第二子图像。

6.如权利要求2所述的方法，所述第一子图像的曝光时间范围为50-120微秒。

7.一种产品检测装置，包括：

取像器，用于根据第一曝光值获取第一图像，且根据第二曝光值获取第二图像；

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，耦接于所述存储器，用于在执行所述计算机程序时实现如下方法：

根据第一曝光值，获取所述产品的第一图像；

根据第二曝光值，获取所述产品的第二图像；以及

根据所述第一图像的第一特征值、所述第二图像的第二特征值、第一预设特征值及第二预设特征值，判断所述产品具缺陷。

8.如权利要求7所述的产品检测装置，所述产品包括第一部分和第二部分，所述取像器包括：

第一取像器，用于根据所述第一曝光值，获取所述产品的第一部分的第一子图像；

第二取像器，用于根据所述第一曝光值，获取所述产品的第二部分的第二子图像；

所述处理器还用于在执行所述计算机程序时实现：根据所述第一子图像及所述第二子图像，产生所述第一图像。

9.如权利要求8所述的产品检测装置，所述第一取像器还用于根据所述第二曝光值，获取所述产品的第一部分的第三子图像；所述第二取像器还用于根据所述第二曝光值，获取所述产品的第二部分的第四子图像；所述处理器还用于在执行所述计算机程序时实现：根据所述第三子图像及所述第四子图像，产生所述第二图像。

10.如权利要求7所述的产品检测装置，所述产品具有取像区域,所述第一图像和第二图像为所述取像器在所述产品的所述取像区域获得的图像,所述产品检测装置还包括：

仿形光源，所述仿形光源具有出射面,所述出射面的形状与所述产品的取像区域的形状相似。

11.如权利要求7所述的产品检测装置，所述产品检测装置还包括：

驱动件，所述驱动件用以驱动所述产品在取像区域内移动。