[发明专利]确定地层中地质参数的方法有效
申请号: | 202010303790.6 | 申请日: | 2020-04-17 |
公开(公告)号: | CN111624652B | 公开(公告)日: | 2023-04-25 |
发明(设计)人: | 何书梅;柴细元;李海燕;赵然;屈翠侠;魏朋朋;郭珍珍;庄学良;池立雅 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司;中国石油集团测井有限公司 |
主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30;G01V1/40 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 董亚军 |
地址: | 100007 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 地层 地质 参数 方法 | ||
1.一种确定地层中地质参数的方法,其特征在于,所述方法包括:
获取地层中多个离散点的三维数据,各所述离散点的三维数据均包括各所述离散点的地平面坐标和深度域坐标;
对所述地层进行测井,并获取所述地层的测井响应;
根据所述测井响应确定所述离散点的地质数据;
根据各所述离散点的三维数据和地质数据,确定各所述离散点的空间域数据;
获取所述地层的深度域地震数据;
基于所述地层的结构张量和所述深度域地震数据,确定所述地层的地质结构张量,所述地层的地质结构张量用于反映所述地层的结构连续性;
基于初级椭圆偏微分方程和所述地质结构张量,确定次级椭圆偏微分方程;
基于各所述离散点的空间域数据,通过所述次级椭圆偏微分方程进行插值,确定所述地层的地质参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取地层中多个离散点的三维数据,包括:
提取所述地层的井眼的三维数据,所述井眼的三维数据包括所述井眼的地平面坐标和深度域坐标;
根据所述井眼的三维数据,获取所述井眼的井斜数据;
根据所述井眼的三维数据和所述井斜数据,获得与所述井眼对应的井的三维数据;
基于所述井的三维数据,获取所述地层中多个所述离散点的三维数据。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述地层的结构张量和所述深度域地震数据,确定所述地层的地质结构张量,包括:
所述地层的结构张量满足以下公式:
其中,C(x)为所述结构张量,x为所述地层中目标点的三维数据,Ix为所述深度域地震数据中所述目标点的水平梯度,Iy为所述深度域地震数据中所述目标点的垂直梯度,Ixy为所述深度域地震数据中所述目标点的水平与竖直连线方向的梯度。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述地层的结构张量和所述深度域地震数据,确定所述地层的地质结构张量,包括:
所述地层的地质结构张量满足以下公式:
其中,D(x)为所述地质结构张量,x为所述地层中目标点的三维数据,s为伸缩尺度系数,C-1(x)为C(x)的逆矩阵,a(x)为结构系数。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于初级椭圆偏微分方程和所述地质结构张量,确定次级椭圆偏微分方程,包括:
计算得到最小地质距离,所述最小地质距离为所述地层中所述目标点与距离所述目标点最近的所述离散点之间在地质空间上的间距;
基于所述初级椭圆偏微分方程、所述最小地质距离和所述地质结构张量,确定所述次级椭圆偏微分方程。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述计算得到最小地质距离,包括:
所述最小地质距离满足以下公式:
其中,X为所述地层中所有离散点的三维数据,g(x)为所述最小地质距离,x为所述地层中目标点的三维数据,所述D(x)为所述地质结构张量,表示矢量g(x)的梯度。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述基于所述初级椭圆偏微分方程、所述最小地质距离和所述地质结构张量,确定所述次级椭圆偏微分方程,包括:
所述次级椭圆偏微分方程满足以下公式:
其中,x为所述地层中目标点的三维数据,xi为距离所述目标点最近的所述离散点的三维数据,v(x)为所述目标点的地质数据,vi为距离所述目标点最近的所述离散点的地质数据;表示矢量v(x)的梯度,g(x)为所述最小地质距离,表示矢量g(x)的梯度,表示矢量的散度。
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