[发明专利]一种检测蚀刻用高精度引线框架材料平整度的快速方法有效

专利信息
申请号: 202010306227.4 申请日: 2020-04-17
公开(公告)号: CN113534612B 公开(公告)日: 2023-02-17
发明(设计)人: 郭慧稳;丁顺德;牛立业;万建;王梦娜 申请(专利权)人: 中铝洛阳铜加工有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F7/16;G01B11/30
代理公司: 洛阳高智达知识产权代理事务所(普通合伙) 41169 代理人: 李世平
地址: 471000 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 蚀刻 高精度 引线 框架 材料 平整 快速 方法
【权利要求书】:

1.一种检测蚀刻用高精度铜带平整度的快速方法,其特征在于:工艺流程为:取样-一次涂感光胶-一次烘干-一次制版-一次曝光-一次显影-边部蚀刻-去感光胶-二次涂感光胶-二次烘干-二次制版-二次曝光-二次显影-半蚀刻或全蚀刻-平整度测量-平整度评价;

第一步,取样:取长度30-300mm、宽度30-300mm的铜带;

第二步,一次涂感光胶:用小型喷枪,将感光胶均匀喷涂在铜带试样两面,将铜带表面覆盖住,无漏出铜带的地方;

第三步,一次烘干:将喷涂感光胶的铜带试样放入烘干箱加热到30-120℃烘干;

第四步,一次制版:采用CAD绘制出宽度为2-20mm的长方形图案后,用喷墨打印机打印在胶片纸上;

第五步,一次曝光:用两张制版后的胶片纸与烘干后的铜带试样对齐后叠放在一起,放入曝光机对双面进行1-10分钟曝光;

第六步,一次显影:用显影剂将制版图案在铜带试样上进行显影;

第七步,边部蚀刻:将显影后的铜带试样,放入小型蚀刻机以2-15米/分的速度进行边部蚀刻;

第八步,去感光胶:将蚀刻后的铜带试样两面感光胶采用去膜剂去除;

第九步,二次涂感光胶:用小型喷枪,将感光胶均匀喷涂在铜带试样两面,无漏铜现象;

第十步,二次烘干:将喷涂感光胶的铜带试样放入烘干箱加热到30-120℃烘干;

第十一步,二次制版:采用CAD根据使用要求设计蚀刻的图案和尺寸后,图案纵向距铜带试样的横向边部2-50mm、图案横向一端距铜带试样的纵向边部2-50mm,用喷墨打印机打印在胶片纸上;

第十二步,二次曝光:将单张制版、二次烘干后的铜带试样叠放在一起,放入曝光机对单面进行1-10分钟曝光;

第十三步,二次显影:用显影剂将制版图案在二次曝光后的铜带试样上进行显影;

第十四步,半蚀刻或全蚀刻:将二次显影后的铜带试样,放入小型蚀刻机按2-15米/分的速度进行图案半蚀刻或全蚀刻,蚀刻深度为5%—100%,对既有半蚀刻又有全蚀刻的铜带,在半蚀刻步骤完成后,将铜带取出清洗后,重复上述第二至第六步骤,再放入蚀刻机按2-10米/分的速度进行蚀刻,深度100%;

第十五步,平整度测量:将半蚀刻或全蚀刻后的铜带试样放置到标准平台上,采用塞尺或游标卡尺进行四个角翘曲高度测量;

第十六步,平整度评价:根据翘曲高度,依据技术要求,进行平整度评价。

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