[发明专利]一种改进梅尔倒谱系数算法的叶片故障诊断方法有效
申请号: | 202010307134.3 | 申请日: | 2020-04-17 |
公开(公告)号: | CN111397884B | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 张家安;姜皓龄;王宇星;郝峰 | 申请(专利权)人: | 河北工业大学 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00;G01M99/00 |
代理公司: | 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210 | 代理人: | 张国荣 |
地址: | 300130 天津市红桥区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改进 梅尔倒 谱系 算法 叶片 故障诊断 方法 | ||
1.一种改进梅尔倒谱系数算法的叶片故障诊断方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
步骤1:对叶片声音信号进行分帧处理获得m帧,其中m的计算公式如下:
m=(l-wlen+inc)/inc
式中,l为声音信号长度,wlen为每帧信号长度,inc为后一帧对前一帧的位移量;
利用梅尔倒谱系数法求得每一帧的n个特征值,得到行数为m、列数为n的特征矩阵Am×n,其中Am×n的表达式为:
步骤2:将特征矩阵Am×n的每一列数据进行提取得到n个数组hi,将n个数组hi分别构建成为n个hankel矩阵Hi;其中Hi的表达式为:
步骤3:将n个hankel矩阵Hi分别进行SVD处理,得到正交矩阵Ui、Vi,以及奇异值矩阵Si,即:
Hi=Ui·Si·ViT,i=1,2,3…n;
式中Si为奇异值递减的对角矩阵,即:
Si=[diag(s1,s2…,sq),0],i=1,2,3…n;
步骤4:分别计算n个奇异值矩阵Si的差分谱,寻找奇异值突变位置,其中奇异值差分谱计算公式为:
bj=sj-sj+1,j=1,2,…q-1;
式中bj为相邻两点奇异值差值,sj为奇异值大小;bj值最大点则为奇异值突变点,将前j个奇异值保留,得到新的奇异值矩阵S1i,其中S1i的表达式为:
S1i=[diag(s1,s2…,sj),0]
步骤5:对hankel矩阵Hi进行重构,矩阵重构公式为:
H1i=Ui·S1i·ViT,i=1,2,3…n;
式中,H1i为重构后的hankel矩阵,Ui、Vi为步骤3中得到的正交矩阵,S1i为步骤4得到的新的奇异值矩阵;
步骤6:分别将H1i的第一行数据与最后一列数据进行提取获得n个数组h1i,将数组作为列向量组成新的特征矩阵A1m×n;其中A1m×n的表达式为:
A1m×n=(h11,h12…h1n)
步骤7:将特征矩阵A1m×n进行K-means聚类,将m帧信号聚为两类并画出信号的类别时序图,根据时序图的周期性判断叶片声音是否故障。
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